| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题的提出 | 第7页 |
| ·目标提取处理技术的研究现状 | 第7-8页 |
| ·图像目标提取的发展现状 | 第7-8页 |
| ·目标提取方法简介 | 第8页 |
| ·荧光磁粉探伤的系统组成与图像处理 | 第8-9页 |
| ·系统硬件组成 | 第8-9页 |
| ·图像软件实现 | 第9页 |
| ·本文主要研究内容 | 第9-11页 |
| 2 荧光磁粉缺陷图像特征分析以及特征提取的一般方法 | 第11-18页 |
| ·图像的采集以及单色化 | 第11页 |
| ·荧光磁粉裂纹图像特征分析 | 第11-13页 |
| ·荧光磁粉缺陷特征分析 | 第11-12页 |
| ·荧光磁粉裂纹直方图分析 | 第12-13页 |
| ·特征提取的一般方法 | 第13-18页 |
| ·区域描绘子 | 第14-15页 |
| ·边界描绘子 | 第15-18页 |
| 3 基于多维特征直方图拟合曲线分割的裂纹目标提取算法 | 第18-36页 |
| ·传统的图像分割算法 | 第18-23页 |
| ·基于边缘的分割 | 第18-21页 |
| ·阈值分割 | 第21-22页 |
| ·基于区域的分割 | 第22-23页 |
| ·基于分块极值的多维特征提取 | 第23-27页 |
| ·分块极值 | 第23-24页 |
| ·多维特征提取 | 第24-27页 |
| ·基于特征直方图拟合曲线分割的区域生长算法 | 第27-32页 |
| ·循环分解特征直方图的分割算法 | 第27-29页 |
| ·基于特征直方图拟合曲率分析的目标分割算法 | 第29-32页 |
| ·区域生长 | 第32页 |
| ·实验结果与分析 | 第32-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 4 基于结点特征的裂纹目标提取算法 | 第36-54页 |
| ·特征的选择 | 第36-38页 |
| ·裂纹细节特征的表述 | 第36-37页 |
| ·结点特征的选择 | 第37-38页 |
| ·基于双重分块极值的连通分量p率阈值分割 | 第38-42页 |
| ·预处理 | 第38页 |
| ·基于双重分块极值的目标预分割 | 第38-41页 |
| ·目标预分割图像的连通分量p率阈值分割 | 第41-42页 |
| ·裂纹目标图像的结点特征提取 | 第42-49页 |
| ·裂纹目标分割的结点预提取 | 第42-44页 |
| ·去伪特征的结点过滤算法 | 第44-47页 |
| ·基于裂纹跟踪步长分析的结点特征提取 | 第47-49页 |
| ·实验结果与分析 | 第49-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 5 总结与展望 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |