| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 引言 | 第11-16页 |
| 1.1 选题的背景和意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外相关研究成果 | 第12-14页 |
| 1.2.1 光照不均匀图像分割的国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 印刷电路板定位的国内外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3 本论文的主要研究工作 | 第14-15页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第15-16页 |
| 第2章 光照不均匀图像的分割 | 第16-28页 |
| 2.1 光照不均匀图像的预处理 | 第16-22页 |
| 2.1.1 传统的同态滤波 | 第16-18页 |
| 2.1.2 改进的同态滤波 | 第18-20页 |
| 2.1.3 伽马变换 | 第20-22页 |
| 2.2 图像的二值化 | 第22-25页 |
| 2.2.1 类不确定性理论 | 第22-23页 |
| 2.2.2 区域稳定性理论 | 第23-24页 |
| 2.2.3 能量函数 | 第24-25页 |
| 2.3 图像的开运算 | 第25-28页 |
| 第3章 印刷电路板圆形定位点的粗定位 | 第28-36页 |
| 3.1 基于模板匹配的圆形定位点区域粗定位 | 第28-29页 |
| 3.2 基于像素级边缘检测和最小二乘拟合的圆形定位点定位 | 第29-36页 |
| 3.2.1 像素级边缘检测 | 第29-33页 |
| 3.2.2 基于角度特征的规则边缘保留 | 第33-34页 |
| 3.2.3 基于最小二乘法的椭圆拟合 | 第34-36页 |
| 第4章 基于亚像素边缘点的印刷电路板定位点的定位 | 第36-45页 |
| 4.1 亚像素边缘检测 | 第36-44页 |
| 4.1.1 亚像素边缘检测的几种方法 | 第36-37页 |
| 4.1.2 Zeinike矩 | 第37页 |
| 4.1.3 基于Zernike矩的亚像素边缘检测原理 | 第37-41页 |
| 4.1.4 7×7的Zernike模板 | 第41-44页 |
| 4.2 基于亚像素边缘点的最小二乘拟合 | 第44-45页 |
| 第5章 实验结果与分析 | 第45-52页 |
| 5.1 实验一 | 第45-47页 |
| 5.2 实验二 | 第47-49页 |
| 5.3 实验三 | 第49-52页 |
| 第6章 结论 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56-58页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第58页 |