| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 本课题研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 工业现场总线的国内外发展现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本论文的主要研究内容和创新点 | 第11-13页 |
| 第二章 现场总线通讯技术的研究 | 第13-24页 |
| 2.1 工业以太网技术 | 第13-16页 |
| 2.1.1 以太网通信原理与过程分析 | 第13-14页 |
| 2.1.2 以太网体系的分层结构模型 | 第14-15页 |
| 2.1.3 以太网的通信帧结构与工业数据封装 | 第15-16页 |
| 2.2 PROFIBUS-DP现场总线 | 第16-20页 |
| 2.2.1 PROFIBUS-DP系统工作过程 | 第16-17页 |
| 2.2.2 PROFIBUS-DP的通信模型 | 第17-20页 |
| 2.3 DeviceNet现场总线 | 第20-23页 |
| 2.3.1 DeviceNet技术概述 | 第20页 |
| 2.3.2 DeviceNet的通信模式 | 第20-21页 |
| 2.3.3 DeviceNet的协议模型 | 第21-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 系统硬件模块的开发与设计 | 第24-40页 |
| 3.1 系统硬件总体框架 | 第24页 |
| 3.2 电源模块设计 | 第24-25页 |
| 3.3 主控芯片的选型和最小系统 | 第25-27页 |
| 3.4 以太网通信模块的设计 | 第27-29页 |
| 3.4.1 以太网设计方案总体结构 | 第27页 |
| 3.4.2 网卡芯片外围电路设计 | 第27-29页 |
| 3.5 PROFIBUS-DP通信模块的设计 | 第29-34页 |
| 3.5.1 PROFIBUS-DP从站设计方案 | 第29页 |
| 3.5.2 PROFIBUS-DP从站系统组成 | 第29-34页 |
| 3.6 DeviceNet通信模块的设计 | 第34-37页 |
| 3.6.1 DeviceNet从站总体设计 | 第34页 |
| 3.6.2 DeviceNet控制芯片驱动电路 | 第34-36页 |
| 3.6.3 基于双口RAM的DeviceNet通信控制的引入 | 第36-37页 |
| 3.7 伺服驱动闭环系统与信号检测部分的设计 | 第37-39页 |
| 3.7.1 伺服驱动闭环控制系统的设计 | 第37页 |
| 3.7.2 PWM调制驱动及隔离电路 | 第37-38页 |
| 3.7.3 编码反馈调理电路 | 第38-39页 |
| 3.8 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 系统软件部分的设计与实现 | 第40-57页 |
| 4.1 基于任务调度的系统实时性的设计 | 第40-44页 |
| 4.1.1 进程级多任务的研究 | 第40-41页 |
| 4.1.2 多进程控制在课题中的应用 | 第41-44页 |
| 4.2 多协议网关通信程序的实现 | 第44-53页 |
| 4.2.1 TCP/IP网关通信程序设计 | 第44-46页 |
| 4.2.2 PROFIBUS-DP总线程序设计 | 第46-50页 |
| 4.2.3 DeviceNet总线程序设计 | 第50-53页 |
| 4.3 伺服系统的闭环控制策略 | 第53-56页 |
| 4.3.1 最小二乘测速算法的应用 | 第53-55页 |
| 4.3.2 增量式PID控制算法的程序设计 | 第55-56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 系统平台测试及性能分析 | 第57-65页 |
| 5.1 多协议网关通信测试及结果分析 | 第57-62页 |
| 5.1.1 以太网网关测试 | 第57-59页 |
| 5.1.2 PROFIBUS-DP网关测试 | 第59-61页 |
| 5.1.3 DeviceNet网关测试 | 第61-62页 |
| 5.2 伺服系统PID性能仿真 | 第62-64页 |
| 5.3 本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 工作总结与展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |