摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-9页 |
符号对照表 | 第14-15页 |
缩略语对照表 | 第15-19页 |
第一章 绪论 | 第19-31页 |
1.1 研究背景与意义 | 第19-24页 |
1.1.1 研究背景 | 第19-20页 |
1.1.2 基本概念 | 第20-24页 |
1.1.3 课题意义 | 第24页 |
1.2 EMC研究的历史与发展 | 第24-29页 |
1.2.1 EMC发展历史 | 第24-26页 |
1.2.2 EMC研究的现状 | 第26-28页 |
1.2.3 电子系统EMC的研究内容 | 第28-29页 |
1.3 论文工作 | 第29-31页 |
1.3.1 研究思路 | 第29-30页 |
1.3.2 论文结构 | 第30-31页 |
第二章 耦合路径研究的理论基础 | 第31-49页 |
2.1 电磁场理论 | 第31-36页 |
2.1.1 麦克斯韦方程组 | 第31-33页 |
2.1.2 近场与远场 | 第33-35页 |
2.1.3 电磁波 | 第35-36页 |
2.2 电路理论 | 第36-40页 |
2.2.1 基本定律与定理 | 第36-37页 |
2.2.2 电路元件 | 第37-40页 |
2.2.3 集总模型和分布模型 | 第40页 |
2.3 传输线理论 | 第40-46页 |
2.3.1 传输线方程 | 第40-42页 |
2.3.2 反射系数和阻抗匹配 | 第42-44页 |
2.3.3 二端口网络 | 第44-46页 |
2.4 区别与联系 | 第46-48页 |
2.4.1 传输线理论与电路理论、电磁场理论的区别 | 第46页 |
2.4.2 传输线理论与电路理论、电磁场理论的联系 | 第46-48页 |
2.5 小结 | 第48-49页 |
第三章 孔缝的电磁耦合特性研究 | 第49-71页 |
3.1 孔缝电磁耦合特性的理论研究 | 第49-53页 |
3.1.1 屏蔽效能 | 第49-50页 |
3.1.2 屏蔽效能的计算方法 | 第50-52页 |
3.1.3 三种计算方法的比较 | 第52-53页 |
3.2 孔缝电磁耦合特性的模型建立 | 第53-61页 |
3.2.1 Robinson模型 | 第53-56页 |
3.2.2 近场干扰 | 第56-58页 |
3.2.3 腔体模式 | 第58-61页 |
3.3 孔缝电磁耦合特性的模型验证 | 第61-63页 |
3.4 孔缝电磁耦合特性的影响因素 | 第63-68页 |
3.4.1 近场电磁屏蔽效能 | 第63-65页 |
3.4.2 孔缝形状 | 第65-67页 |
3.4.3 腔体厚度 | 第67页 |
3.4.4 腔体内不同位置 | 第67-68页 |
3.5 本章小结 | 第68-71页 |
第四章 微带传输线的辐射发射特性研究 | 第71-95页 |
4.1 微带传输线辐射发射的理论研究 | 第71-75页 |
4.1.1 微带传输线 | 第71-73页 |
4.1.2 辐射发射机理 | 第73-74页 |
4.1.3 微带传输线的电压和电流 | 第74-75页 |
4.2 微带传输线辐射发射的电路模型 | 第75-87页 |
4.2.1 测试环境 | 第75-77页 |
4.2.2 测试建模 | 第77-82页 |
4.2.3 模型验证 | 第82-87页 |
4.3 负载效应对微带传输线辐射发射的影响 | 第87-93页 |
4.3.1 负载对辐射发射的影响 | 第87-89页 |
4.3.2 负载与电场耦合和磁场耦合的关系 | 第89-93页 |
4.4 本章小结 | 第93-95页 |
第五章 微带传输线的电磁敏感性研究 | 第95-119页 |
5.1 远场干扰下微带传输线的电磁敏感性 | 第95-109页 |
5.1.1 理论研究 | 第95-99页 |
5.1.2 电路模型 | 第99-103页 |
5.1.3 模型验证 | 第103-106页 |
5.1.4 负载的影响 | 第106-109页 |
5.2 近场干扰下微带传输线的电磁敏感性 | 第109-118页 |
5.2.1 串扰模型 | 第109-113页 |
5.2.2 负载对串扰的影响 | 第113-115页 |
5.2.3 电磁敏感性 | 第115-118页 |
5.3 本章小结 | 第118-119页 |
第六章 总结与展望 | 第119-121页 |
6.1 全文总结 | 第119-120页 |
6.2 后续工作展望 | 第120-121页 |
参考文献 | 第121-129页 |
致谢 | 第129-131页 |
作者简介 | 第131-133页 |