混频器芯片测试技术研究与实现

摘要	第4-5页
Abstract	第5页
第一章 绪论	第8-11页
1.1 研究背景	第8-9页
1.2 论文的主要工作	第9-10页
1.3 论文的组织结构	第10页
1.4 小结	第10-11页
第二章 混频器基础理论	第11-21页
2.1 混频器的原理	第11-12页
2.2 混频器的分类	第12-14页
2.3 混频器性能指标	第14-20页
2.4 小结	第20-21页
第三章 混频器性能测试技术	第21-28页
3.1 增益和S参数测试	第21-22页
3.2 线性度测试	第22-24页
3.3 噪声系数测试	第24-27页
3.4 小结	第27-28页
第四章 射频测试板设计与实现	第28-40页
4.1 测试板设计基础	第28-33页
4.2 混频器ADL5801芯片	第33-37页
4.3 基于Allegro测试板设计	第37-40页
4.4 小结	第40页
第五章 测试平台搭建与实测	第40-51页
5.1 测试仪器介绍	第40-44页
5.2 端口S参数测试	第44-45页
5.3 转换增益实测	第45-46页
5.4 线性度实测	第46-49页
5.5 噪声系数实测	第49-50页
5.6 小结	第50-51页
第六章 总结与展望	第51-52页
附录	第52-61页
S参数测试结果截图	第52-54页
增益测试结果截图	第54-56页
IP3测试结果截图	第56-59页
噪声测试结果截图	第59-61页
致谢	第61-62页
参考文献	第62-64页