高速电路电源完整性及串扰的研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-14页 |
·引言 | 第9页 |
·国内外研究现状及发展趋势 | 第9-11页 |
·电源完整性的研究现状 | 第9-10页 |
·串扰的研究现状 | 第10-11页 |
·信号完整性仿真工具 | 第11-13页 |
·本文的主要内容及章节安排 | 第13-14页 |
第二章 高速电路信号完整性理论 | 第14-23页 |
·高速电路 | 第14页 |
·传输线理论 | 第14-18页 |
·传输线等效电路模型 | 第14-16页 |
·传输线特性参数 | 第16-18页 |
·串扰理论 | 第18-22页 |
·容性串扰理论 | 第18-20页 |
·感性串扰理论 | 第20-22页 |
·电源完整性理论 | 第22页 |
·本章总结 | 第22-23页 |
第三章 高速电路电源完整性的研究 | 第23-37页 |
·高频去耦电容模型分析 | 第23-31页 |
·单个电容的等效电路模型 | 第23-24页 |
·两个并联电容的等效电路模型 | 第24-28页 |
·三个电容等效电路模型 | 第28-31页 |
·高频去耦电容反谐振点分析 | 第31-33页 |
·高频去耦电容的选取方案 | 第33-35页 |
·电容选取的流程 | 第33-34页 |
·流程的实施 | 第34-35页 |
·多个高频去耦电容选取方法 | 第35-36页 |
·本章总结 | 第36-37页 |
第四章 高速电路中串扰的研究 | 第37-46页 |
·基于保护线方法抑制串扰噪声 | 第37-42页 |
·保护线对串扰的影响 | 第37-38页 |
·不同终端的保护线抑制串扰仿真分析 | 第38-40页 |
·引入不同孔间距的保护线抑制串扰性能分析 | 第40-42页 |
·影响串扰的因素 | 第42-44页 |
·耦合长度 | 第42-43页 |
·微带线间距 | 第43-44页 |
·介质厚度 | 第44页 |
·本章小结 | 第44-46页 |
第五章 总结与展望 | 第46-47页 |
参考文献 | 第47-51页 |
发表论文和科研情况说明 | 第51-52页 |
致谢 | 第52-53页 |