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基于电容传感器的薄膜厚度测量系统研究

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-12页
   ·薄膜厚度测量的应用背景第7页
   ·薄膜测量方法概述第7-10页
   ·电容测厚系统研究的国内外现状第10页
   ·本课题的研究目的和主要研究内容第10-12页
第二章 薄膜测厚系统工作原理第12-26页
   ·电容传感器工作原理及其类型第12-17页
     ·电容传感器工作原理第12页
     ·电容传感器类型第12-17页
   ·电容信号检测电路的方案选择第17-24页
     ·调频电路第18-19页
     ·运算放大器电路第19页
     ·二极管双T 形交流电桥第19-21页
     ·脉冲宽度调制电路第21-22页
     ·电容容抗测量电路第22-24页
   ·薄膜测厚系统总体设计第24-25页
   ·本章小结第25-26页
第三章 电容传感器探头的研究第26-34页
   ·电容传感器探头的检测原理第26-28页
   ·电场边缘效应的影响及保护环技术第28-31页
     ·电场的边缘效应第28-30页
     ·保护环技术第30-31页
   ·驱动电缆技术第31页
   ·电容传感器探头的设计与制作第31-33页
   ·本章小结第33-34页
第四章 薄膜测厚系统硬件设计及软件实现第34-48页
   ·系统硬件电路设计第34-43页
     ·精密信号源电路设计第34-37页
     ·有效值转换电路设计第37-39页
     ·A/D 转换模块设计第39-41页
     ·主控模块设计第41页
     ·显示模块设计第41-42页
     ·测温模块设计第42-43页
   ·系统软件设计第43-46页
     ·软件总体设计第43-44页
     ·主程序设计第44页
     ·中断程序设计第44-46页
   ·系统抗干扰设计第46-47页
   ·本章小结第47-48页
第五章 薄膜测厚系统标定及误差分析第48-55页
   ·测量系统的标定及温度漂移的校正第48-51页
     ·测量系统的标定第48-50页
     ·薄膜测厚系统的测量精度第50页
     ·系统重复性测试第50-51页
     ·温度漂移特性的测量及补偿第51页
   ·测量结果及误差第51-52页
   ·影响系统误差的因素第52-54页
     ·传感器探头安装倾斜引起的测量误差第52-53页
     ·驱动电缆屏蔽问题引起的测量误差第53页
     ·温度漂移引起的测量误差第53-54页
     ·标定薄膜引起的误差第54页
   ·本章小结第54-55页
第六章 总结与展望第55-57页
   ·总结第55页
   ·展望第55-57页
参考文献第57-60页
附录第60-62页
致谢第62-63页
作者在攻读硕士期间的主要研究成果第63页

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