| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·研究的背景和意义 | 第8-9页 |
| ·OTP 存储器的发展概况 | 第9-13页 |
| ·论文章节的组成 | 第13-14页 |
| 第二章 OTP 存储器的内核设计 | 第14-25页 |
| ·工作机理研究 | 第14-17页 |
| ·存储单元工作机制 | 第17-19页 |
| ·存储单元的写入 | 第18页 |
| ·存储单元的读取 | 第18-19页 |
| ·存储单元的擦除 | 第19页 |
| ·存储单元研究 | 第19-22页 |
| ·存储单元结构布局 | 第22-24页 |
| ·存储单元结构 | 第22-23页 |
| ·存储单元布局 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 OTP 存储器的外围电路设计 | 第25-47页 |
| ·地址译码电路 | 第25-29页 |
| ·行译码电路 | 第26-28页 |
| ·列译码电路 | 第28-29页 |
| ·时序控制电路 | 第29-31页 |
| ·电压产生和选择电路 | 第31-44页 |
| ·读取电压产生电路（Regulator System） | 第31-41页 |
| ·读字线选通电压产生电路（Boost System） | 第41-42页 |
| ·电压转换电路（VPP Switch System） | 第42-44页 |
| ·输入输出电路 | 第44-46页 |
| ·输入电路 | 第44-45页 |
| ·输出电路 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 OTP 存储器版图设计和仿真验证 | 第47-56页 |
| ·版图设计 | 第47-52页 |
| ·布局布线简介 | 第47-48页 |
| ·本芯片版图设计 | 第48-52页 |
| ·整体芯片的仿真验证 | 第52-55页 |
| ·读写时序 | 第52-53页 |
| ·仿真验证 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 问题讨论 | 第56-65页 |
| ·读取电压和编程电压的选择问题 | 第56-58页 |
| ·Bandgap 电路直流扫描的稳定性问题 | 第58-60页 |
| ·减小耦合效应的影响问题 | 第60-61页 |
| ·电路中寄生参数的估算问题 | 第61-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-68页 |
| ·论文总结 | 第65-66页 |
| ·工作展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 附录 | 第72-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
