色散型成像光谱仪光学系统物理效应的建模与仿真
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-17页 |
| ·研究背景及重要意义 | 第7-8页 |
| ·成像光谱仪的探测机理和类型 | 第8-11页 |
| ·物质的光谱特性 | 第8页 |
| ·数据立方体 | 第8-10页 |
| ·成像光谱仪的类型 | 第10-11页 |
| ·国内外发展现状 | 第11-15页 |
| ·成像光谱仪的发展现状 | 第11-13页 |
| ·成像光谱仪建模与仿真的发展现状 | 第13-15页 |
| ·论文内容结构及特色 | 第15-17页 |
| ·内容结构 | 第15-16页 |
| ·本文特色 | 第16-17页 |
| 第二章 成像光谱仪工作原理及物理效应的分析 | 第17-27页 |
| ·色散型成像光谱仪的工作原理 | 第17-18页 |
| ·成像光谱仪的结构 | 第18-21页 |
| ·光学系统 | 第18-19页 |
| ·探测器系统 | 第19-20页 |
| ·电路系统 | 第20-21页 |
| ·成像光谱仪的仿真模型 | 第21-25页 |
| ·成像光谱仪仿真分析模型 | 第21-22页 |
| ·成像光谱仪传感器模型 | 第22-23页 |
| ·物理效应的两种仿真方法 | 第23-25页 |
| ·小结 | 第25-27页 |
| 第三章 成像光谱仪前置光学系统物理效应建模与仿真 | 第27-39页 |
| ·成像光谱仪前置光学系统 | 第27-28页 |
| ·离轴三反射光学系统的设计方法 | 第28-32页 |
| ·共轴三反射光学系统参数的确定 | 第28-31页 |
| ·离轴三反射光学系统的获取方法 | 第31-32页 |
| ·光学效应的仿真 | 第32-37页 |
| ·离轴三反射光学系统 | 第32-34页 |
| ·光学系统效应仿真 | 第34-36页 |
| ·离焦的仿真 | 第36-37页 |
| ·小结 | 第37-39页 |
| 第四章 色散型成像光谱仪谱线弯曲效应的模拟 | 第39-65页 |
| ·谱线弯曲的建模 | 第39-42页 |
| ·光栅成像光谱仪的谱线弯曲 | 第42-50页 |
| ·光栅成像光谱仪谱线弯曲的理论推导 | 第42-43页 |
| ·光栅成像光谱仪谱线弯曲的影响分析 | 第43-44页 |
| ·光栅成像光谱仪谱线弯曲效应的仿真 | 第44-48页 |
| ·光栅成像光谱仪谱线弯曲效应引起的信号偏差的分析 | 第48-50页 |
| ·棱镜成像光谱仪的谱线弯曲 | 第50-63页 |
| ·棱镜成像光谱仪谱线弯曲的产生机理 | 第50-52页 |
| ·棱镜成像光谱仪谱线弯曲量的理论计算 | 第52-57页 |
| ·棱镜成像光谱仪谱线弯曲效应的仿真 | 第57-60页 |
| ·棱镜成像光谱仪谱线弯曲效应引起的信号偏差的分析 | 第60-63页 |
| ·小结 | 第63-65页 |
| 第五章 结论 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
