首页--工业技术论文--自动化技术、计算机技术论文--计算技术、计算机技术论文--电子数字计算机(不连续作用电子计算机)论文--存贮器论文--磁存贮器及其驱动器论文

Fe(002)织构的形成机理及其在磁记录中的应用

摘要第1-4页
Abstract第4-6页
第一章 前言第6-21页
 §1.1 垂直磁记录原理第7-12页
  §1.1.1 垂直磁记录系统的主要构件第7-8页
  §1.1.2 垂直磁记录写入和读出的原理第8-10页
  §1.1.3 超高密度垂直磁记录介质所面临的三重困境第10-12页
 §1.2 溅射成膜的机理第12-21页
  §1.2.1 薄膜生长过程第12-19页
  §1.2.2 磁控溅射各参数对成膜的影响第19-21页
第二章 薄膜的制备及表征第21-29页
 §2.1 薄膜的制备第21-24页
  §2.1.1 磁控溅射的原理第21-23页
  §2.1.2 本实验所用溅射系统性能第23-24页
 §2.2 薄膜的表征第24-29页
  §2.2.1 X射线衍射方法第24-25页
  §2.2.2 原子力显微镜第25-26页
  §2.2.3 振动样品磁强计第26-27页
  §2.2.4 磁光克尔效应测磁性第27-29页
第三章 Fe(002)织构的形成机理第29-41页
 §3.1 Fe薄膜织构形成的两种机制第29-31页
  §3.1.1 热平衡生长模式第30-31页
  §3.1.2 非平衡模式第31页
 §3.2 溅射条件对形成Fe(002)织构的影响第31-35页
  §3.2.1 溅射功率对织构的影响第31-34页
  §3.2.2 溅射气压的影响第34页
  §3.2.3 基底温度的影响第34-35页
  §3.2.4 结论第35页
 §3.3 退火对Fe薄膜织构的影响第35-39页
  §3.3.1 退火温度的影响第36-38页
  §3.3.2 溅射条件对退火结果的影响第38-39页
  §3.3.3 结论第39页
 §3.3 小结第39-41页
第四章 FePt/Fe双层结构第41-51页
 §4.1 Fe(002)织构上外延FePt(001)织构第41-44页
 §4.2 FePt/Fe之间的交换耦合第44-49页
  §4.2.1 Fe厚度变化对外延生长的影响第44-46页
  §4.2.2 改变Fe厚度对FePt/Fe磁性的影响第46-49页
  §4.2.3 结论第49页
 §4.3 小结第49-51页
第五章 总结与展望第51-53页
参考文献第53-56页
硕士期间已发表论文第56-57页
致谢第57-58页

论文共58页,点击 下载论文
上一篇:Intel NOR闪存Class测试流程的优化与实现
下一篇:基于阻性存储器高密度应用的工艺解决方案研究