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Intel NOR闪存Class测试流程的优化与实现

摘要第1页
Abstract第4-5页
第1章 绪论第5-7页
   ·选题目的及意义第5页
   ·流程优化目标及特色第5页
   ·论文的研究内容第5-6页
   ·论文结构第6-7页
第2章 NOR 闪存 产品简介第7-10页
   ·版图结构及MLC技术原理介绍第7-8页
   ·主要功能介绍(Read,Erase,Program)第8-9页
   ·本章小结第9-10页
第3章 标准测试流程研究第10-19页
   ·Sort流程第11-15页
   ·Class流程第15-17页
   ·本章小结第17-19页
第4章 1PE flow构想 以及对Sort Flow的变化第19-21页
   ·1P/E flow构想第19页
   ·1P/E Flow与标准流程的区别第19-20页
   ·Sort 1P/E Flow的变化第20页
   ·本章小结第20-21页
第5章 Margin_delta对1PE flow的影响第21-27页
   ·常规标准Flow的Margin_Delta失效模型第21-23页
   ·Margin_delta解决方案第23-26页
     ·Margin delta失效模型解决方案第23-24页
     ·Margin delta测试程序设计以及实现第24-26页
   ·本章小结第26-27页
第6章 Program对1PE flow的影响第27-30页
   ·常规标准Flow的Program失效模型第27页
   ·Program问题解决方案第27-29页
   ·本章小结第29-30页
第7章 Read和Erase对1PE flow的影响第30-32页
   ·常规标准Flow的Read失效模型第30页
   ·常规标准Flow的Erase失效模型第30-31页
   ·Read和Erase解决方案第31-32页
第8章 1P/E flow的实现情况第32-35页
结论第35-36页
参考文献第36-37页
致谢第37-38页

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