| 第一章 绪论 | 第1-16页 |
| ·对随机数发生器的需求 | 第14-15页 |
| ·本文所做的工作 | 第15页 |
| ·本文结构安排 | 第15-16页 |
| 第二章 随机数的基本概念及其发生器的原理 | 第16-38页 |
| ·随机数的基本概念 | 第16-18页 |
| ·随机性 | 第16页 |
| ·不可预测性 | 第16-17页 |
| ·数学方法定义随机数概念 | 第17页 |
| ·随机序列 | 第17页 |
| ·衡量随机序列质量的主要指标 | 第17-18页 |
| ·随机数发生器 | 第18页 |
| ·噪声源 | 第18-23页 |
| ·电路中存在的噪声 | 第18-19页 |
| ·相位噪声 | 第19-20页 |
| ·压空振荡器(VCO)的相位噪声 | 第20-22页 |
| ·锁相环的相位噪声 | 第22-23页 |
| ·伪随机数发生器的原理 | 第23-34页 |
| ·伪随机数发生器的特性以及其应用价值 | 第23页 |
| ·产生伪随机数通常方法简介 | 第23-34页 |
| ·线性同余系列 | 第23-25页 |
| ·线性同余法与乘子的选取 | 第23-24页 |
| ·线性同余法的缺陷 | 第24-25页 |
| ·一般非线性同余发生器 | 第25页 |
| ·逆同余发生器 | 第25-26页 |
| ·几个逆同余发生器 | 第25页 |
| ·逆同余发生器的基本算法 | 第25-26页 |
| ·逆同余发生器的优缺点 | 第26页 |
| ·经典的Fibonacci与延迟Fibonacci序列 | 第26页 |
| ·Tausworthe序列 | 第26-27页 |
| ·进位加和借位减发生器 | 第27-30页 |
| ·基本概念 | 第27-29页 |
| ·进一步讨论 | 第29-30页 |
| ·复合素数和混沌映射产生随机数 | 第30-31页 |
| ·乘子和增量在递推中变化的复合素数随机数发生器 | 第30页 |
| ·混沌映射产生随机数的一个例子 | 第30-31页 |
| ·组合发生器及有关的理论成果 | 第31-34页 |
| ·组合发生器 | 第31-32页 |
| ·组合发生器的若干重要理论成果 | 第32-33页 |
| ·组合发生器的周期 | 第33页 |
| ·线性同余组和发生器的统计性质和网格结构 | 第33-34页 |
| ·真随机数发生器的原理 | 第34-36页 |
| ·真随机数发生器的概念和属性 | 第34页 |
| ·真随机数发生器的常用方法 | 第34-36页 |
| ·直接放大 | 第34页 |
| ·振荡器采样 | 第34-35页 |
| ·基于混沌的离散时间 | 第35-36页 |
| ·采用锁相环方法的依据 | 第36-38页 |
| 第三章 随机序列的测试标准 | 第38-45页 |
| ·随机序列的性能指标 | 第38页 |
| ·随机序列的测试标准 | 第38-43页 |
| ·测试方法的理论基础 | 第38-40页 |
| ·测试基准 | 第40-42页 |
| ·美国联邦信息处理标准(FIPS140-1)指定的测试方案 | 第42-43页 |
| ·采用的测试方案 | 第43-45页 |
| 第四章 一种真随机数发生器的设计 | 第45-82页 |
| ·系统设计 | 第45-47页 |
| ·设计构思 | 第45-46页 |
| ·系统及端口说明 | 第46-47页 |
| ·TRNG系统的内部功能划分 | 第47页 |
| ·噪声源电路设计 | 第47-49页 |
| ·系统设计 | 第47-48页 |
| ·工作原理 | 第48-49页 |
| ·随机种子采集电路设计 | 第49-50页 |
| ·数据处理 | 第50-59页 |
| ·数据处理整体方案 | 第50-51页 |
| ·偏置纠正 | 第51-52页 |
| ·数据杂化 | 第52-58页 |
| ·SHA-1函数说明 | 第52-55页 |
| ·定义 | 第53-54页 |
| 4 4.3.1.2 函数与常数 | 第54-55页 |
| ·预处理 | 第55页 |
| ·SHA-1算法主体 | 第55-57页 |
| ·SHA-1算法实例 | 第57-58页 |
| ·SHA-1杂化方案的设计 | 第58-59页 |
| ·模块划分与硬件实现 | 第59-67页 |
| ·模块划分 | 第59-60页 |
| ·硬件实现 | 第60-67页 |
| ·PLL系统 | 第60-61页 |
| ·rng模块 | 第61-67页 |
| ·sampling模块 | 第62-63页 |
| ·corrector模块 | 第63-64页 |
| ·padding模块 | 第64-66页 |
| ·mixer模块 | 第66-67页 |
| ·生成随机数序列的质量测试 | 第67-71页 |
| ·部分图形以及相关信息 | 第71-79页 |
| ·数字电路部分仿真结果 | 第71-72页 |
| ·数字电路部分综合结果 | 第72-74页 |
| ·数字／模拟混合仿真部分结果 | 第74-77页 |
| ·数字电路部分综合信息 | 第77-79页 |
| ·随机数的应用 | 第79-82页 |
| ·随机数的应用场合 | 第79-80页 |
| ·密码学中应用随机数的依据 | 第80-82页 |
| 第五章 结束语 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-86页 |