| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-14页 |
| ·自动测试系统概述 | 第7-9页 |
| ·自动测试系统的发展过程 | 第7-8页 |
| ·自动测试系统的结构和特点 | 第8-9页 |
| ·自动测试系统的分类 | 第9-11页 |
| ·自动测试系统的软件开发工具 | 第11-12页 |
| ·本课题的任务和论文结构 | 第12-14页 |
| 第2章 GPIB接口总线 | 第14-22页 |
| ·GPIB的硬件接口 | 第14-19页 |
| ·GPIB的硬件组成 | 第14-16页 |
| ·GPIB的器件职能 | 第16-17页 |
| ·GPIB的管理总线 | 第17-18页 |
| ·GPIB的挂钩总线 | 第18-19页 |
| ·GPIB通信协议 | 第19-22页 |
| ·IEEE—488标准 | 第19-20页 |
| ·IEEE-488.2标准 | 第20-22页 |
| 第3章 自动测试系统的组成 | 第22-27页 |
| ·自动测试系统的结构 | 第22-23页 |
| ·自动测试系统的硬件组成 | 第23页 |
| ·程控测试仪器 | 第23-27页 |
| 第4章 测试软件设计 | 第27-39页 |
| ·N I-488/N I-488.2通信协议在VB环境下的实现 | 第27-31页 |
| ·测试系统的程序流程 | 第31-34页 |
| ·测试系统的初始化 | 第32页 |
| ·服务器与测量仪器的通信 | 第32-34页 |
| ·测量数据的保存和查询 | 第34-37页 |
| ·测试系统界面设计 | 第37-39页 |
| 第5章 对于二硼化镁超导薄膜的测量 | 第39-45页 |
| ·实验方法 | 第39页 |
| ·实验结果 | 第39-43页 |
| ·实验结果及分析 | 第43-45页 |
| 第6章 总结与展望 | 第45-46页 |
| ·总结 | 第45页 |
| ·工作展望 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-48页 |
| 硕士期间发表论文 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 附件 源程序 | 第50-65页 |