| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第6-15页 |
| 1.1 分形研究背景及现状 | 第6-8页 |
| 1.2 分形基本概念 | 第8-15页 |
| 第二章 一类正六面体的 Hausdorff 测度的计算 | 第15-28页 |
| 2.1 Hausdorff 测度研究现状 | 第15-17页 |
| 2.2 一类正六面体的 Hausdorff 测度的计算 | 第17-25页 |
| 2.3 应用 | 第25-28页 |
| 第三章 一类 Sierpinski 地毯顶点处上凸密度的估计 | 第28-36页 |
| 3.1 上凸密度有关定理概述 | 第28页 |
| 3.2 一类 Sierpinski 地毯顶点处上凸密度的估计 | 第28-36页 |
| 第四章 几乎处处最好覆盖与最好覆盖 | 第36-44页 |
| 4.1 直线上满足开集条件自相似集的相关定理 | 第36-38页 |
| 4.2 直线上的满足开集条件自相似集存在最好覆盖的充要条件 | 第38-39页 |
| 4.3 几乎处处最好覆盖是最好覆盖的充分条件 | 第39-42页 |
| 4.4 应用 | 第42-44页 |
| 致谢 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-48页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第48页 |