光学式轴孔内径测量方法及关键技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-21页 |
| 1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 基于坐标测量方法 | 第11-13页 |
| 1.2.2 基于专用量仪测量方法 | 第13-14页 |
| 1.3 新型光学式内径测量方法概述 | 第14-16页 |
| 1.4 测量关键技术研究 | 第16-19页 |
| 1.5 本文研究的主要内容 | 第19-21页 |
| 第二章 光学式轴孔内径自动化测量方法 | 第21-38页 |
| 2.1 轴孔内径测量方法概述 | 第21-24页 |
| 2.1.1 轴孔内径测量特点 | 第21-23页 |
| 2.1.2 量仪结构布局 | 第23-24页 |
| 2.2 内径测量数学模型 | 第24-28页 |
| 2.3 基于遗传算法的模型误差分析 | 第28-35页 |
| 2.3.1 遗传算法运行框架 | 第28-30页 |
| 2.3.2 遗传算法求解 | 第30-33页 |
| 2.3.3 模型误差分析 | 第33-35页 |
| 2.4 量仪调整结构 | 第35-36页 |
| 2.5 本章小结 | 第36-38页 |
| 第三章 小型化测头测量方法 | 第38-52页 |
| 3.1 测头测量原理 | 第38-41页 |
| 3.1.1 测量原理概述 | 第38-39页 |
| 3.1.2 激光位移传感器发展现状 | 第39-41页 |
| 3.2 小型化测头结构分析 | 第41-45页 |
| 3.2.1 小型化布局 | 第41-42页 |
| 3.2.2 误差影响因素 | 第42-45页 |
| 3.3 信号检测精度分析 | 第45-51页 |
| 3.3.1 信号检测原理概述 | 第45-48页 |
| 3.3.2 光斑光强分布影响 | 第48-49页 |
| 3.3.3 背景光影响 | 第49-51页 |
| 3.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第四章 散射因素对测量精度的影响 | 第52-70页 |
| 4.1 双向反射分布函数基础模型 | 第52-54页 |
| 4.2 粗糙表面散射模型解析 | 第54-65页 |
| 4.2.1 粗糙表面统计学假设 | 第54-60页 |
| 4.2.2 标量散射理论基础 | 第60-63页 |
| 4.2.3 粗糙表面解析模型 | 第63-65页 |
| 4.3 粗糙表面散射测量实验 | 第65-69页 |
| 4.3.1 静态光强检测实验 | 第66-67页 |
| 4.3.2 表面光强检测实验 | 第67-68页 |
| 4.3.3 位移比较测量实验 | 第68-69页 |
| 4.4 本章小结 | 第69-70页 |
| 第五章 测头非平稳信号处理方法 | 第70-90页 |
| 5.1 经典信号滤波方法概述 | 第70-72页 |
| 5.2 信号小波分解方法 | 第72-78页 |
| 5.2.1 信号分解基础 | 第72-75页 |
| 5.2.3 小波分解与重构原理分析 | 第75-78页 |
| 5.3 小波阈值去噪方法研究 | 第78-84页 |
| 5.3.1 小波函数选取方法 | 第79-82页 |
| 5.3.2 阈值选取原则 | 第82-84页 |
| 5.4 位置信号小波去噪对比实验 | 第84-89页 |
| 5.4.1 不同小波基去噪实验 | 第85-86页 |
| 5.4.2 不同尺度去噪实验 | 第86-87页 |
| 5.4.3 不同采样数量去噪实验 | 第87-88页 |
| 5.4.4 小波去噪对比实验 | 第88-89页 |
| 5.5 本章小结 | 第89-90页 |
| 第六章 轴孔内径测量实验 | 第90-102页 |
| 6.1 测量系统简介 | 第90-97页 |
| 6.1.1 测量系统组件 | 第90-95页 |
| 6.1.2 测量控制系统 | 第95-97页 |
| 6.2 测头标定实验 | 第97-98页 |
| 6.3 轴孔内径测量实验 | 第98-101页 |
| 6.3.1 量仪单次测量实验 | 第98-100页 |
| 6.3.2 量仪重复性测量实验 | 第100页 |
| 6.3.3 单层截面重复性测量实验 | 第100-101页 |
| 6.4 本章小结 | 第101-102页 |
| 第七章 全文总结与展望 | 第102-104页 |
| 7.1 全文总结 | 第102-103页 |
| 7.2 创新点说明 | 第103页 |
| 7.3 展望 | 第103-104页 |
| 参考文献 | 第104-113页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第113-114页 |
| 致谢 | 第114页 |
