超高频射频识别读写器中逐次逼近型模数转换器的研究与设计
目录 | 第2-4页 |
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 引言 | 第7-13页 |
1.1 研究背景 | 第7页 |
1.2 系统应用背景及指标要求 | 第7-9页 |
1.3 常见的逐次逼近型模数转换器结构 | 第9-12页 |
1.3.1 时间交织 | 第9-10页 |
1.3.2 两步式 | 第10页 |
1.3.3 分段式 | 第10-11页 |
1.3.4 上极板采样 | 第11页 |
1.3.5 总结 | 第11-12页 |
1.4 论文的主要工作及内容 | 第12-13页 |
第二章 系统设计 | 第13-24页 |
2.1 系统架构 | 第13-20页 |
2.1.1 二进制SAR ADC原理 | 第13-14页 |
2.1.2 非二进制SAR ADC原理 | 第14-17页 |
2.1.3 动态阂值控制 | 第17-18页 |
2.1.4 数字校准原理 | 第18-19页 |
2.1.5 系统整体架构 | 第19-20页 |
2.2 理论分析 | 第20-24页 |
2.2.1 时序分析 | 第20页 |
2.2.2 噪声分析 | 第20-24页 |
第三章 原理图设计 | 第24-32页 |
3.1 采样电路 | 第24-25页 |
3.2 金属-氧化层-金属(MoM)电容 | 第25-26页 |
3.3 动态比较器 | 第26-28页 |
3.4 预放大电路 | 第28-29页 |
3.5 异步时钟模块 | 第29-31页 |
3.6 数字校准模块及I~2C模块 | 第31-32页 |
第四章 版图设计 | 第32-39页 |
4.1 预放大器与动态比较器版图 | 第32-33页 |
4.2 电容阵列版图 | 第33-34页 |
4.3 模数转换器核心模块版图 | 第34-35页 |
4.4 第二版芯片核心版图 | 第35-36页 |
4.5 芯片整体版图 | 第36-39页 |
第五章 芯片实现与测试结果 | 第39-54页 |
5.1 芯片实现 | 第39页 |
5.2 模数转换器主要参数 | 第39-42页 |
5.2.1 静态特性参数 | 第39-41页 |
5.2.2 动态特性参数 | 第41-42页 |
5.2.3 优值 | 第42页 |
5.3 测试方案 | 第42-44页 |
5.3.1 静态特性指标测试方案 | 第43页 |
5.3.2 动态特性指标测试方案 | 第43-44页 |
5.4 PCB设计 | 第44-45页 |
5.5 测试结果 | 第45-54页 |
5.5.1 校准算法 | 第45-47页 |
5.5.2 动态特性 | 第47-53页 |
5.5.3 测试结果总结 | 第53-54页 |
第六章 测试结果分析与改进 | 第54-64页 |
6.1 芯片测试结果分析 | 第54-55页 |
6.2 绑定线电感影响 | 第55-56页 |
6.3 改进方法 | 第56-64页 |
6.3.1 加入片上去耦电容 | 第56-59页 |
6.3.2 改进结构 | 第59-61页 |
6.3.3 使用差分正弦波输入时钟 | 第61-64页 |
第七章 总结与展望 | 第64-66页 |
7.1 成果总结 | 第64-65页 |
7.2 未来展望 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-68页 |
致谢 | 第68-69页 |