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超高频射频识别读写器中逐次逼近型模数转换器的研究与设计

目录第2-4页
摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第一章 引言第7-13页
    1.1 研究背景第7页
    1.2 系统应用背景及指标要求第7-9页
    1.3 常见的逐次逼近型模数转换器结构第9-12页
        1.3.1 时间交织第9-10页
        1.3.2 两步式第10页
        1.3.3 分段式第10-11页
        1.3.4 上极板采样第11页
        1.3.5 总结第11-12页
    1.4 论文的主要工作及内容第12-13页
第二章 系统设计第13-24页
    2.1 系统架构第13-20页
        2.1.1 二进制SAR ADC原理第13-14页
        2.1.2 非二进制SAR ADC原理第14-17页
        2.1.3 动态阂值控制第17-18页
        2.1.4 数字校准原理第18-19页
        2.1.5 系统整体架构第19-20页
    2.2 理论分析第20-24页
        2.2.1 时序分析第20页
        2.2.2 噪声分析第20-24页
第三章 原理图设计第24-32页
    3.1 采样电路第24-25页
    3.2 金属-氧化层-金属(MoM)电容第25-26页
    3.3 动态比较器第26-28页
    3.4 预放大电路第28-29页
    3.5 异步时钟模块第29-31页
    3.6 数字校准模块及I~2C模块第31-32页
第四章 版图设计第32-39页
    4.1 预放大器与动态比较器版图第32-33页
    4.2 电容阵列版图第33-34页
    4.3 模数转换器核心模块版图第34-35页
    4.4 第二版芯片核心版图第35-36页
    4.5 芯片整体版图第36-39页
第五章 芯片实现与测试结果第39-54页
    5.1 芯片实现第39页
    5.2 模数转换器主要参数第39-42页
        5.2.1 静态特性参数第39-41页
        5.2.2 动态特性参数第41-42页
        5.2.3 优值第42页
    5.3 测试方案第42-44页
        5.3.1 静态特性指标测试方案第43页
        5.3.2 动态特性指标测试方案第43-44页
    5.4 PCB设计第44-45页
    5.5 测试结果第45-54页
        5.5.1 校准算法第45-47页
        5.5.2 动态特性第47-53页
        5.5.3 测试结果总结第53-54页
第六章 测试结果分析与改进第54-64页
    6.1 芯片测试结果分析第54-55页
    6.2 绑定线电感影响第55-56页
    6.3 改进方法第56-64页
        6.3.1 加入片上去耦电容第56-59页
        6.3.2 改进结构第59-61页
        6.3.3 使用差分正弦波输入时钟第61-64页
第七章 总结与展望第64-66页
    7.1 成果总结第64-65页
    7.2 未来展望第65-66页
参考文献第66-68页
致谢第68-69页

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