激光对瞬态过程检测中的光学设计技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-20页 |
| 1.1 选题意义与创新 | 第16页 |
| 1.2 电爆炸法的基本原理 | 第16-17页 |
| 1.3 等离子体诊断方法 | 第17-18页 |
| 1.4 固体激光简介 | 第18-19页 |
| 1.5 本文内容及章节安排 | 第19-20页 |
| 第二章 激光器及光学设计理论基础 | 第20-40页 |
| 2.1 Nd:YAG晶体基本特性 | 第20-22页 |
| 2.2 速率方程 | 第22-24页 |
| 2.3 光学谐振腔 | 第24-26页 |
| 2.4 声光调Q技术 | 第26-32页 |
| 2.4.1 调Q技术简介 | 第26-27页 |
| 2.4.2 声光调Q基本原理 | 第27-32页 |
| 2.5 倍频技术 | 第32-33页 |
| 2.6 光学设计方法 | 第33-39页 |
| 2.6.1 像差简要介绍 | 第33-37页 |
| 2.6.2 光学设计流程 | 第37-39页 |
| 2.7 本章小结 | 第39-40页 |
| 第三章 激光器与光学检测设备光路的设计及实验研究 | 第40-62页 |
| 3.1 激光器参数设计 | 第40-41页 |
| 3.2 激光器参数设计的实验验证 | 第41-48页 |
| 3.2.1 激光器调Q实验研究 | 第42-45页 |
| 3.2.2 倍频激光器实验研究 | 第45-48页 |
| 3.3 激光干涉实验 | 第48-51页 |
| 3.3.1 连续光的干涉 | 第49-50页 |
| 3.3.2 纳秒量级脉冲光的干涉 | 第50-51页 |
| 3.4 激光器正式样机的设计制造与测试 | 第51-56页 |
| 3.4.1 设计制作 | 第52-54页 |
| 3.4.2 参数测试 | 第54-55页 |
| 3.4.3 测试结果分析 | 第55-56页 |
| 3.5 干涉检测设备光路的设计搭建与现场测试 | 第56-60页 |
| 3.6 本章小结 | 第60-62页 |
| 第四章 激光扩束系统设计 | 第62-74页 |
| 4.1 激光扩束系统的作用及种类 | 第62-65页 |
| 4.1.1 折射式扩束系统 | 第62-63页 |
| 4.1.2 反射式扩束系统 | 第63-65页 |
| 4.2 激光扩束系统的原理 | 第65-69页 |
| 4.2.1 折射式激光扩束系统原理 | 第65-66页 |
| 4.2.2 反射式激光扩束系统原理 | 第66-69页 |
| 4.3 光学设计 | 第69-73页 |
| 4.3.1 主要设计参数 | 第69页 |
| 4.3.2 设计与优化 | 第69-73页 |
| 4.4 本章小结 | 第73-74页 |
| 第五章 光学成像系统设计 | 第74-84页 |
| 5.1 滤光片 | 第74-75页 |
| 5.2 CCD | 第75页 |
| 5.3 单个透镜的成像效果分析 | 第75-78页 |
| 5.4 光学成像系统设计 | 第78-82页 |
| 5.5 本章小结 | 第82-84页 |
| 第六章 总结 | 第84-86页 |
| 参考文献 | 第86-90页 |
| 致谢 | 第90-92页 |
| 作者简介 | 第92-93页 |
