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先进工艺下集成电路的静电放电防护设计及其可靠性研究

致谢第5-6页
摘要第6-8页
Abstract第8-9页
缩略词表第10-16页
1. 绪论第16-38页
    1.1 课题背景及意义第16-17页
    1.2 静电放电的测试标准和方法第17-29页
        1.2.1 静电放电的测试标准第17-20页
        1.2.2 测试方法和测试仪器第20-26页
        1.2.3 传输线脉冲(TLP)测试第26-27页
        1.2.4 ESD设计窗口第27-29页
    1.3 集成电路的ESD防护方法第29-33页
        1.3.1 集成电路的ESD防护网络第29-30页
        1.3.2 集成电路的ESD防护器件第30-32页
        1.3.3 ESD器件的仿真第32-33页
    1.4 集成电路的ESD防护研究现状第33-35页
    1.5 本文的主要工作和组织架构第35-38页
        1.5.1 论文的研究方法和技术路线第35-36页
        1.5.2 论文主要内容第36-38页
2. 纳米集成电路的ESD防护设计研究第38-74页
    2.1 纳米集成电路ESD防护发展概述第38-39页
    2.2 纳米集成电路ESD可靠性和设计窗口第39-46页
        2.2.1 MOS栅氧瞬态击穿电压评估第40-44页
        2.2.2 MOS栅氧失效分析第44-46页
        2.2.3 65nm ESD设计窗口第46页
    2.3 基于二极管的ESD防护结构第46-50页
    2.4 基于MOS管的ESD防护结构第50-58页
        2.4.1 GGNMOS工作原理和特性第50-53页
        2.4.2 衬底注入辅助触发技术第53-56页
        2.4.3 衬底电阻调制技术第56-58页
    2.5 基于晶闸管(SCR)的ESD防护结构第58-72页
        2.5.1 SCR的工作原理第59-63页
        2.5.2 改进型低触发电压SCR设计研究第63-68页
        2.5.3 MOS触发的SCR防护结构研究第68-72页
    2.6 本章小结第72-74页
3 射频集成电路ESD设计及其应用实现第74-106页
    3.1 射频芯片ESD防护发展概述第74-76页
    3.2 射频ESD防护器件研究第76-88页
        3.2.1 射频电路ESD防护评估方法第76-80页
        3.2.2 传统ESD器件性能和寄生电容综合比较第80-82页
        3.2.3 改进型二极管串的ESD防护结构研究第82-88页
    3.3 超宽带低噪声放大器及其ESD防护设计第88-103页
        3.3.1 UWB LNA拓扑结构设计第88-91页
        3.3.2 UWB LNA电路仿真结果第91-94页
        3.3.3 LNA ESD防护设计第94-95页
        3.3.4 UWB LNA版图设计与实现第95-97页
        3.3.5 UWB LNA流片测试结果和性能比较第97-103页
    3.4 本章小结第103-106页
4 高压功率集成电路ESD设计及其应用实现第106-136页
    4.1 高压功率集成电路ESD设计概述第106-108页
    4.2 BCD工艺下ESD防护方案研究第108-117页
        4.2.1 BCD工艺下低压GGNMOS防护方案研究第108-113页
        4.2.2 BCD工艺下高压LDMOS ESD特性研究第113-117页
    4.3 SOI工艺高压功率集成电路ESD防护设计第117-135页
        4.3.1 PDP行驱动芯片概况第118-119页
        4.3.2 5V低压电路ESD防护设计第119-122页
        4.3.3 高压LIGBT的ESD特性研究第122-126页
        4.3.4 LIGBT触发电压步进效应第126-130页
        4.3.5 160V高压电路ESD防护设计第130-131页
        4.3.6 PDP行驱动芯片流片测试结果第131-135页
    4.4 本章小结第135-136页
5. 总结与展望第136-139页
    5.1 总结第136-137页
    5.2 展望第137-139页
参考文献第139-150页
作者简历及在学期间所取得的科研成果第150-152页
    作者简历第150页
    参加的科研项目第150页
    作为第一作者发表的文章第150-151页
    作为第一发明人获得授权的发明专利第151-152页

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