基于65nm FPGA全局互连测试研究与实现
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第7-18页 |
| 1.1 FPGA概述 | 第7-14页 |
| 1.1.1 FPGA的发展与应用 | 第7-9页 |
| 1.1.2 FPGA硬件结构简介 | 第9-14页 |
| 1.2 FPGA测试 | 第14-15页 |
| 1.3 研究动机及目标 | 第15-16页 |
| 1.4 主要研究工作 | 第16-17页 |
| 1.5 组织结构 | 第17-18页 |
| 第二章 研究背景 | 第18-29页 |
| 2.1 FPGA全局互连测试介绍 | 第18-22页 |
| 2.1.1 互连资源分类 | 第18页 |
| 2.1.2 故障模型与四个基本条件 | 第18-20页 |
| 2.1.3 全局互连测试流程 | 第20-21页 |
| 2.1.4 施加激励 | 第21-22页 |
| 2.2 研究现状 | 第22-27页 |
| 2.2.1 全局互连测试方法研究 | 第22-25页 |
| 2.2.2 覆盖率统计方法 | 第25-27页 |
| 2.3 本章小结 | 第27-29页 |
| 第三章 基于布线资源图的基本布线算法 | 第29-39页 |
| 3.1 布线资源图 | 第29-33页 |
| 3.1.1 层次化布线资源图的解耦 | 第29-31页 |
| 3.1.2 图在MYSQL中的存储与读出 | 第31-33页 |
| 3.2 基本布线算法 | 第33-37页 |
| 3.2.1 广度优先搜索算法 | 第33-34页 |
| 3.2.2 深度优先搜索算法 | 第34-35页 |
| 3.2.3 基于广度优先的二分法的故障定位 | 第35-37页 |
| 3.3 本章小结 | 第37-39页 |
| 第四章 全局互连测试配置生成算法 | 第39-50页 |
| 4.1 整体算法介绍 | 第39-42页 |
| 4.1.1 测试方案故障覆盖说明 | 第39-40页 |
| 4.1.2 程序总体流程图 | 第40-42页 |
| 4.2 配置生成的三个阶段 | 第42-49页 |
| 4.2.1 线故障的覆盖 | 第42-45页 |
| 4.2.2 可编程开关故障的覆盖 | 第45-48页 |
| 4.2.3 基于广度优先的覆盖率的攀升 | 第48-49页 |
| 4.3 本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 实验结果总结与分析 | 第50-56页 |
| 5.1 布线资源图压缩存储效果分析 | 第50页 |
| 5.2 二分法故障定位试验结果 | 第50-52页 |
| 5.3 整体覆盖率报告与分析 | 第52-53页 |
| 5.4 阶段三对减少Pattern数的效果分析 | 第53-55页 |
| 5.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 第六章 总结与展望 | 第56-58页 |
| 6.1 全文工作总结 | 第56页 |
| 6.2 创新点总结 | 第56-57页 |
| 6.3 未来工作展望 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
