摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第10-21页 |
1.1 研究背景及意义 | 第10-15页 |
1.2 霍尔推力器全通道等离子体放电特性研究现状 | 第15-17页 |
1.3 霍尔推力器全通道等离子体数值模拟研究现状 | 第17-19页 |
1.4 论文主要内容及章节安排 | 第19-21页 |
第2章 霍尔推力器放电通道物理模型及模拟方法 | 第21-35页 |
2.1 引言 | 第21页 |
2.2 物理模型的建立 | 第21-29页 |
2.2.1 物理模型 | 第21-23页 |
2.2.2 模拟区域及磁场位形的分布 | 第23页 |
2.2.3 边界条件 | 第23-25页 |
2.2.4 粒子间碰撞分析 | 第25-29页 |
2.3 PIC(Particle-in-Cell)模拟方法 | 第29-33页 |
2.3.1 发展历史及基本思路 | 第29-30页 |
2.3.2 初始粒子分布 | 第30-31页 |
2.3.3 泊松方程求解 | 第31-33页 |
2.3.4 运动方程求解 | 第33页 |
2.4 无量纲化参数 | 第33-34页 |
2.5 本章小结 | 第34-35页 |
第3章 放电电压对霍尔推力器全通道放电特性的影响研究 | 第35-43页 |
3.1 引言 | 第35页 |
3.2 电子数密度随放电电压的变化规律研究 | 第35-37页 |
3.3 电子温度随放电电压的变化规律研究 | 第37-39页 |
3.4 放电电压对放电通道电势的影响 | 第39-41页 |
3.5 放电电压对霍尔推力器比冲的影响 | 第41-42页 |
3.6 本章小结 | 第42-43页 |
第4章 工质流量对霍尔推力器全通道放电特性的影响研究 | 第43-48页 |
4.1 引言 | 第43页 |
4.2 电子数密度随工质流量变化规律的研究 | 第43-44页 |
4.3 电子温度随工质流量变化规律的研究 | 第44-45页 |
4.4 电势随工质流量变化规律的研究 | 第45-47页 |
4.5 本章小结 | 第47-48页 |
第5章 工质流量对霍尔推力器性能的影响分析 | 第48-51页 |
5.1 引言 | 第48页 |
5.2 离子电流及推力随工质流量的变化规律 | 第48-50页 |
5.3 推进效率随工质流量的变化规律 | 第50页 |
5.4 本章小结 | 第50-51页 |
结论与展望 | 第51-53页 |
参考文献 | 第53-60页 |
攻读学位期间公开发表论文 | 第60-61页 |
致谢 | 第61页 |