| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 前言 | 第10-17页 |
| 1.1 研究目的与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.1 测井资料标准化处理方法研究现状 | 第11页 |
| 1.2.2 低渗透储层“四性”关系及孔隙结构分析研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.3 低渗透储层参数建模研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.4 储层流体识别方法研究现状 | 第13页 |
| 1.3 研究工区概况 | 第13-15页 |
| 1.4 研究内容与技术路线 | 第15-17页 |
| 1.4.1 研究内容 | 第15页 |
| 1.4.2 技术路线 | 第15-16页 |
| 1.4.3 技术路线流程图 | 第16-17页 |
| 第二章 测井资料标准化处理方法研究 | 第17-26页 |
| 2.1 测井资料标准化方法简述 | 第17-18页 |
| 2.1.1 定性标准化分析 | 第17-18页 |
| 2.1.2 定量标准化计算 | 第18页 |
| 2.2 研究区低渗透砂岩储层标准化处理 | 第18-25页 |
| 2.2.1 标准层的选取 | 第19页 |
| 2.2.2 标准化方法选取与处理 | 第19-25页 |
| 2.3 小结 | 第25-26页 |
| 第三章 储层特征分析及“四性”关系研究 | 第26-49页 |
| 3.1 储层特征分析 | 第26-40页 |
| 3.1.1 储层岩石学特征 | 第26-31页 |
| 3.1.2 储层物性特征 | 第31-34页 |
| 3.1.3 储层孔隙结构特征 | 第34-38页 |
| 3.1.4 储层电性特征 | 第38-40页 |
| 3.1.5 储层含气性特征 | 第40页 |
| 3.2 储层“四性”关系研究 | 第40-47页 |
| 3.2.1 岩性-物性 | 第40-44页 |
| 3.2.2 岩性-电性 | 第44-45页 |
| 3.2.3 岩性-含气性 | 第45页 |
| 3.2.4 物性-含气性 | 第45-46页 |
| 3.2.5 含气性-电性 | 第46-47页 |
| 3.3 小结 | 第47-49页 |
| 第四章 储层物性参数计算模型 | 第49-61页 |
| 4.1 泥质含量分析 | 第49-50页 |
| 4.2 孔隙度建模 | 第50-53页 |
| 4.3 渗透率计算 | 第53-60页 |
| 4.3.1 常规孔渗拟合法 | 第53-54页 |
| 4.3.2 流动单元带指数法 | 第54-58页 |
| 4.3.3 核磁测井估算渗透率 | 第58-60页 |
| 4.4 小结 | 第60-61页 |
| 第五章 储层饱和度解释模型 | 第61-73页 |
| 5.1 基于岩电实验的含水饱和度模型 | 第61-65页 |
| 5.1.1 岩石Archie参数特征 | 第61-64页 |
| 5.1.2 Archie公式计算含水饱和度 | 第64-65页 |
| 5.2 声波时差-中子含水饱和度模型 | 第65-67页 |
| 5.3 束缚水饱和度模型 | 第67-70页 |
| 5.4 应用效果分析 | 第70-72页 |
| 5.5 小结 | 第72-73页 |
| 第六章 低渗透砂岩气层识别方法研究 | 第73-91页 |
| 6.1 常规测井组合识别气层 | 第73-76页 |
| 6.1.1 三孔隙度重叠、差值及比值法 | 第73-74页 |
| 6.1.2 声波时差差值法 | 第74页 |
| 6.1.3 双密度重叠法 | 第74-75页 |
| 6.1.4 应用效果分析 | 第75-76页 |
| 6.2 纵横波测井指示法 | 第76-84页 |
| 6.2.1 弹性模量差比与视弹性模量系数法 | 第76-78页 |
| 6.2.2 纵横波速比与纵波阻抗重叠法 | 第78页 |
| 6.2.3 泊松比与体积压缩系数交会法 | 第78页 |
| 6.2.4 基于Biot-Gassmann理论的流体因子识别方法 | 第78-83页 |
| 6.2.5 应用效果分析 | 第83-84页 |
| 6.3 Xu-White模型含气性分析 | 第84-88页 |
| 6.3.1 经典Xu-White模型 | 第84-86页 |
| 6.3.2 Xu-White模型含气性评价流程 | 第86-87页 |
| 6.3.3 应用效果分析 | 第87-88页 |
| 6.4 DMR识别法 | 第88-89页 |
| 6.5 小结 | 第89-91页 |
| 结论与认识 | 第91-93页 |
| 参考文献 | 第93-101页 |
| 攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第101-102页 |
| 致谢 | 第102页 |