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BIB探测器的制备及等离子体效应的应用研究

致谢第5-7页
摘要第7-10页
Abstract第10-12页
第一章 绪论第17-51页
    1.1 引言第17页
    1.2 红外辐射第17-19页
    1.3 红外探测器概述第19-25页
        1.3.1 热探测器第21-22页
        1.3.2 光子型探测器第22-25页
    1.4 BIB探测器第25-35页
        1.4.1 探测器品质因数第28-29页
        1.4.2 BIB探测器工作原理第29-30页
        1.4.3 BIB探测器器件常用结构第30-32页
        1.4.4 BIB探测器器件物理模型第32-34页
        1.4.5 BIB探测器中的带阶效应第34-35页
    1.5 表面等离激元第35-42页
        1.5.1 金属中的体等离子第35-38页
        1.5.2 SPP耦合方式第38-40页
        1.5.3 SPP耦合的应用第40-42页
    1.6 本论文的研究目的和工作内容第42-43页
    参考文献第43-51页
第二章 主要实验设备及原理介绍第51-70页
    2.1. 离子注入第51-57页
        2.1.1 离子注入原理第51页
        2.1.2 离子注入机构造第51-54页
        2.1.3 离子注入的能量损失和射程分布第54-56页
        2.1.4 离子注入的损伤第56-57页
    2.2 快速退火(RTA)第57-60页
    2.3 薄膜生长技术第60-63页
        2.3.1 物理气相沉积(PVD)第60-62页
        2.3.2 化学气相沉积(CVD)第62-63页
    2.4 光刻与刻蚀第63-66页
    2.5 红外傅里叶变换光谱(FTIR)仪第66-68页
    参考文献第68-70页
第三章 As离子注入硅衬底的电学性能及缺陷研究第70-93页
    3.1 引言第70-71页
    3.2 As离子注入的Si衬底的电学性质第71-79页
        3.2.1 离子注入参数设计与实验第72-74页
        3.2.2 结果与讨论第74-79页
        3.2.3 小结第79页
    3.3 As离子注入的S_1衬底退火过程中的缺陷演化第79-88页
        3.3.1 制备与测试第81-82页
        3.3.2 结果与讨论第82-87页
        3.3.3 小结第87-88页
    3.4 结论第88页
    参考文献第88-93页
第四章 BIB探测器的两种工作模式第93-105页
    4.1 引言第93-94页
    4.2 器件制备与测试第94-96页
    4.3 结果与讨论第96-102页
    4.4 结论第102页
    参考文献第102-105页
第五章 BIB探测器中的体等离子效应第105-115页
    5.1 引言第105-106页
    5.2 器件制备与测试第106页
    5.3 结果与讨论第106-111页
    5.4 结论第111页
    参考文献第111-115页
第六章 表面等离激元耦合BIB探测器第115-130页
    6.1 引言第115-116页
    6.2 外延型SPP耦合BIB探测器第116-120页
    6.3 离子注入型SPP耦合BIB探测器第120-126页
    6.4 结论第126-127页
    参考文献第127-130页
第七章 总结与展望第130-135页
    7.1 论文工作总结第130-132页
    7.2 今后工作展望第132-135页
博士期间的主要成果第135页
    论文成果第135页
    专利成果第135页

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