知识产权保护下R&D溢出效应研究
| 内容摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 导论 | 第9-16页 |
| ·研究目的及背景 | 第9-10页 |
| ·文献综述 | 第10-14页 |
| ·国际贸易与R&D技术溢出 | 第10-11页 |
| ·FDI与R&D技术溢出 | 第11-12页 |
| ·知识产权与R&D技术溢出 | 第12-14页 |
| ·研究思路及方法 | 第14-15页 |
| ·本文的研究思路如下 | 第14-15页 |
| ·拟采用的研究方法 | 第15页 |
| ·本文的创新之处 | 第15-16页 |
| 第2章 知识产权与国际R&D溢出的理论基础 | 第16-24页 |
| ·知识产权基本问题 | 第16-20页 |
| ·知识产权的概念界定 | 第16页 |
| ·知识产权的特征 | 第16-17页 |
| ·TRIPS协定下知识产权的新发展 | 第17-20页 |
| ·国际R&D溢出的理论基础 | 第20-24页 |
| ·内生增长理论 | 第20-21页 |
| ·国际生产折衷理论 | 第21页 |
| ·产品周期理论 | 第21-22页 |
| ·知识溢出理论 | 第22-24页 |
| 第3章 我国知识产权保护强度的度量 | 第24-42页 |
| ·知识产权保护的现状 | 第24-29页 |
| ·美国知识产权保护的现状 | 第24-25页 |
| ·欧盟知识产权保护的现状 | 第25-26页 |
| ·国内知识产权保护的现状 | 第26-28页 |
| ·我国现阶段知识产权维护方面存在的缺陷 | 第28-29页 |
| ·知识产权保护强度的度量及修正 | 第29-42页 |
| ·现有知识产权保护强度的度量方法的分析比较 | 第29-30页 |
| ·本文采用的知识产权保护强度的度量方法 | 第30-42页 |
| 第4章 国际R&D溢出效应的实证分析 | 第42-52页 |
| ·变量的选取及数据来源 | 第42-49页 |
| ·相关变量的选取 | 第42-43页 |
| ·相关数据的来源 | 第43-49页 |
| ·我国国际R&D溢出效应的实证分析 | 第49-52页 |
| 第5章 结论及建议 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 后记 | 第55页 |