高分辨率阵列感应测井在苏里格致密砂岩储层评价中的应用
中文摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-14页 |
第1章 绪论 | 第14-21页 |
·研究目的和意义 | 第14-15页 |
·国内外研究现状 | 第15-18页 |
·阵列感应测井研究现状 | 第15-16页 |
·致密砂岩储层参数解释模型研究现状 | 第16页 |
·气层识别方法研究现状 | 第16-17页 |
·产能预测研究现状 | 第17-18页 |
·研究内容与技术路线 | 第18-19页 |
·研究内容 | 第18-19页 |
·技术路线 | 第19页 |
·论文难点与创新点 | 第19-21页 |
·论文难点 | 第19-20页 |
·论文创新点 | 第20-21页 |
第2章 苏里格地区地质概况及致密砂岩储层特征 | 第21-32页 |
·苏里格区域地质概况 | 第21-22页 |
·苏里格致密砂岩储层特征 | 第22-25页 |
·储层岩石学特征 | 第22-23页 |
·储层储集空间类型 | 第23-25页 |
·致密砂岩物性及相渗特征 | 第25-27页 |
·致密砂岩物性特征 | 第25-26页 |
·致密砂岩相渗特征 | 第26-27页 |
·苏里格地区高分辨率阵列感应测井曲线特点 | 第27-32页 |
第3章 高分辨率阵列感应测井原理及几何因子理论 | 第32-44页 |
·感应测井基本理论 | 第32-35页 |
·高分辨率阵列感应测井基本理论及仪器特征 | 第35-38页 |
·测井原理 | 第35-36页 |
·仪器特征 | 第36-38页 |
·几何因子理论分析 | 第38-39页 |
·Doll几何因子 | 第38页 |
·Gianzero几何因子 | 第38页 |
·Moran几何因子 | 第38页 |
·三线圈的几何因子 | 第38-39页 |
·复合线圈的几何因子 | 第39页 |
·线圈系的探测特性 | 第39-44页 |
·线圈系的纵向探测特性 | 第40页 |
·线圈系的径向探测特性 | 第40-41页 |
·高分辨率阵列感应测井的几何因子响应特性 | 第41-44页 |
第4章 阵列感应测井泥浆侵入正演模拟 | 第44-49页 |
·正演计算模型 | 第44页 |
·泥浆侵入对阵列感应测井曲线的影响规律 | 第44-49页 |
·高侵模型 | 第46-47页 |
·低侵模型 | 第47页 |
·低阻环带模型 | 第47-49页 |
第5章 致密砂岩储层参数解释模型 | 第49-59页 |
·孔隙度计算模型 | 第49-50页 |
·渗透率计算模型 | 第50-54页 |
·利用孔隙度计算渗透率 | 第50-51页 |
·SVR渗透率预测法 | 第51-54页 |
·饱和度计算模型 | 第54-57页 |
·含水饱和度模型 | 第54页 |
·岩电参数的确定 | 第54-56页 |
·地层水电阻率的确定 | 第56-57页 |
·孔渗饱计算模型应用效果 | 第57-59页 |
第6章 致密砂岩气层识别与含气性评价 | 第59-70页 |
·基于HDIL资料的交会图识别 | 第59-62页 |
·高分辨率感应-侧向联合识别气水层 | 第59-60页 |
·高分辨率阵列感应测井曲线总差异参数识别气水层 | 第60-62页 |
·拟阵列识别法 | 第62-66页 |
·贝叶斯判别法识别流体 | 第66-70页 |
·贝叶斯判别法基本原理 | 第66-67页 |
·贝叶斯流体识别 | 第67-70页 |
第7章 压裂产能预测方法研究 | 第70-99页 |
·压裂产能影响因素分析 | 第70-79页 |
·压后产能与测井曲线的关系 | 第70-75页 |
·压裂施工参数对产能的影响 | 第75-78页 |
·基于灰色关联分析法的压裂产能影响因素优选 | 第78-79页 |
·压裂产能神经网络预测模型 | 第79-83页 |
·神经网络模型样本的选择及数据的预处理 | 第79-80页 |
·基于GA-Elman神经网络的预测模型 | 第80-83页 |
·气水相对渗透率计算方法 | 第83-87页 |
·气水相渗曲线的筛选与分类 | 第84页 |
·气水相渗曲线的表征方法 | 第84-85页 |
·气水相渗曲线的归一化处理 | 第85-87页 |
·产能劈分方法 | 第87-91页 |
·KHK产能劈分方法 | 第87-90页 |
·实际应用 | 第90-91页 |
·多层合试压裂产能预测模型在苏里格地区的应用 | 第91-99页 |
·测试层段压裂产能的预测及误差分析 | 第91-94页 |
·未测试层段压裂产能的预测 | 第94-96页 |
·苏里格区产能分布特征 | 第96-99页 |
第8章 结论与认识 | 第99-101页 |
参考文献 | 第101-105页 |
作者简介及在学期间所取得的科研成果 | 第105-108页 |
致谢 | 第108页 |