| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-8页 |
| 第一章 SMILETRAPII总体介绍 | 第8-11页 |
| 第二章 离子阱质量测量原理 | 第11-28页 |
| ·离子在理想Penning阱中的本征运动 | 第11-15页 |
| ·Ramsey离子激发技术 | 第15-20页 |
| ·飞行时间技术(TOF) | 第20-22页 |
| ·数据分析工具 | 第22-28页 |
| 第三章 实验设备与实验过程 | 第28-36页 |
| ·在S-EBIT实验室所使用的离子源 | 第30-32页 |
| ·Pre-Trap预冷却离子阱 | 第32-33页 |
| ·Precision-Trap高精确度离子阱 | 第33-36页 |
| 第四章 离子在预冷却离子阱Pre-Trap中的束缚 | 第36-47页 |
| ·利用电子枪在离子阱中电离并束缚离子的时钟设置 | 第36-40页 |
| ·SMILIS产生的离子的束缚 | 第40-44页 |
| ·束缚S-EBIT产生的离子 | 第44-47页 |
| 第五章 在Pre-Trap中的离子冷却技术 | 第47-51页 |
| ·自发冷却 | 第47-48页 |
| ·离子冷却 | 第48页 |
| ·频带激发冷却 | 第48-49页 |
| ·电流抑制冷却 | 第49-50页 |
| ·蒸发冷却 | 第50-51页 |
| 第六章 质量测量的实验方法与过程 | 第51-61页 |
| ·质量测量实验过程 | 第51-55页 |
| ·影响测量精度的因素 | 第55-61页 |
| 第七章 温度对质量测量的影响及调整 | 第61-67页 |
| ·温度对质量测量的影响 | 第61-62页 |
| ·PID算法控制器原理 | 第62-65页 |
| ·实验结果 | 第65-67页 |
| 第八章 预冷却离子阱Pre-Trap实验 | 第67-75页 |
| ·蒸发冷却实验 | 第67-70页 |
| 1.E-GUN方式离子束的蒸发冷却 | 第67-69页 |
| 2.S-EBIT离子束蒸发冷却 | 第69-70页 |
| ·离子阱中离子群体轴向振动频率测量实验 | 第70-75页 |
| 第九章 结论与展望 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 已发表的文章 | 第81-82页 |