摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-8页 |
1 绪论 | 第8-16页 |
·工业CT 概述 | 第8-12页 |
·工业CT 工作原理 | 第8-9页 |
·工业CT 技术特点 | 第9-10页 |
·工业CT 发展状况 | 第10-12页 |
·FPGA 现场可编程门阵列 | 第12-13页 |
·FPGA 简介 | 第12-13页 |
·FPGA 发展状况 | 第13页 |
·VHDL 简介 | 第13-14页 |
·课题设计任务 | 第14-16页 |
2 工业X-CT 探测原理 | 第16-26页 |
·X 射线的本质 | 第16-18页 |
·X 射线的产生 | 第16页 |
·X 射线的本质 | 第16-18页 |
·X 射线的特性阐述 | 第18页 |
·X 射线工业CT 探测与数据采集系统结构 | 第18页 |
·X 射线探测器 | 第18-21页 |
·X 射线工业CT 系统探测器种类 | 第19-20页 |
·闪烁探测器组成及工作原理 | 第20-21页 |
·信号转换电路 | 第21-22页 |
·逻辑控制单元 | 第22-26页 |
3 高能X 射线工业CT 探测与数据采集系统总体设计方案 | 第26-48页 |
·总体设计 | 第26-27页 |
·高能X 射线探测器的选取 | 第27-30页 |
·闪烁体探测器的选取 | 第27-28页 |
·光电转换器件的选取 | 第28-29页 |
·射线传感器模块设计 | 第29-30页 |
·信号转换电路设计 | 第30-37页 |
·信号转换电路方案选取 | 第30-32页 |
·DDC118 工作原理 | 第32-37页 |
·逻辑控制单元 | 第37-39页 |
·探测单元硬件电路设计 | 第39-48页 |
·FPGA 核心电路板设计 | 第40-45页 |
·A/D 外围电路板设计 | 第45-48页 |
4 基于FPGA 的数据采集控制系统设计 | 第48-74页 |
·数据采集控制单元设计方案 | 第48-50页 |
·数据采集控制系统框架 | 第48-49页 |
·数据流控制模型 | 第49-50页 |
·命令接口 | 第50-53页 |
·串行命令接收模块 | 第50-52页 |
·串并转换模块 | 第52-53页 |
·仿真结果 | 第53页 |
·命令处理模块 | 第53-57页 |
·命令译码模块 | 第54-55页 |
·命令校验与传输模块 | 第55-56页 |
·仿真结果 | 第56-57页 |
·数据采集控制模块 | 第57-62页 |
·A/D 控制模块设计 | 第57-61页 |
·数据检测单元 | 第61页 |
·时钟管理模块 | 第61页 |
·仿真结果 | 第61-62页 |
·数据输入接口 | 第62-66页 |
·数据输入接口控制单元 | 第62-64页 |
·异步数据缓冲模块 | 第64-65页 |
·串并转换模块 | 第65页 |
·校验模块 | 第65页 |
·选通器 | 第65页 |
·仿真结果 | 第65-66页 |
·数据缓冲模块 | 第66-69页 |
·RAM 模块 | 第67页 |
·写地址发生器 | 第67-68页 |
·读地址发生器 | 第68页 |
·仿真结果 | 第68-69页 |
·数据输出接口 | 第69-73页 |
·并行数据接收模块 | 第70页 |
·并串转换模块 | 第70页 |
·数据发送缓冲模块 | 第70-71页 |
·数据发送模块 | 第71-72页 |
·仿真结果 | 第72-73页 |
·选通器的实现 | 第73-74页 |
5 系统抗干扰设计 | 第74-78页 |
·电路抗干扰设计 | 第74-75页 |
·FPGA 抗干扰设计 | 第75-76页 |
·FPGA 电路中毛刺的产生 | 第75-76页 |
·毛刺的消除方法 | 第76页 |
·印制电路板的布线与工艺 | 第76-78页 |
6 系统测试 | 第78-86页 |
·基于FPGA 的数字系统测试方法 | 第78-80页 |
·概述 | 第78页 |
·SignalTap II 使用简介 | 第78-80页 |
·系统测试结果 | 第80-86页 |
·DDC118 数据采集测试 | 第80-83页 |
·串行数据发送与接收测试 | 第83-84页 |
·测试结论 | 第84-86页 |
7 结束语 | 第86-88页 |
致谢 | 第88-90页 |
参考文献 | 第90-94页 |
附录 | 第94页 |