摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
目录 | 第5-8页 |
全文框图索引目录 | 第8-10页 |
全文表格索引目录 | 第10-11页 |
第一章 绪论 | 第11-17页 |
·课题研究背景和意义 | 第11-12页 |
·国内外研究现状 | 第12页 |
·章节安排和主要工作 | 第12-14页 |
·课题中用到的仿真软件 | 第14-16页 |
·Matlab/Simulink软件 | 第14页 |
·ADS仿真软件 | 第14-16页 |
·本章小结 | 第16-17页 |
第二章 射频识别系统及测试读写器 | 第17-25页 |
·RFID系统 | 第17-20页 |
·RFID系统的组成 | 第17-18页 |
·RFID系统工作原理 | 第18-20页 |
·RFID空中接口协议 | 第20-21页 |
·测试读写器系统 | 第21-24页 |
·射频模块设计目标及性能要求 | 第21-22页 |
·射频模块系统构成 | 第22-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第三章 测试读写器发射单元技术研究 | 第25-51页 |
·锁相环的仿真优化及环路滤波器设计 | 第25-32页 |
·锁相环的性能及参数要求 | 第25页 |
·锁相环的基本原理 | 第25-27页 |
·锁相环环路滤波器的设计 | 第27-29页 |
·环路滤波器的ADS优化设计 | 第29-30页 |
·锁相环的ADS优化仿真 | 第30-32页 |
·多种调制方式频谱利用率及数据传输效率仿真分析 | 第32-40页 |
·空中接口协议规定 | 第32-33页 |
·调制方式频谱利用率及数据传输效率仿真分析 | 第33-40页 |
·ASK调制深度与误比特率关系分析研究 | 第40-49页 |
·调制深度的定义 | 第40页 |
·调制深度对误比特率影响的理论分析 | 第40-45页 |
·ASK调制深度对误比特率影响的Simulink仿真验证 | 第45-48页 |
·理论分析结果与实验仿真结果比较 | 第48-49页 |
·本章小结 | 第49-51页 |
第四章 测试读写器接收单元技术研究 | 第51-57页 |
·零中频正交混频接收方案 | 第51-52页 |
·正交混频原理 | 第51页 |
·接收零点的消除 | 第51-52页 |
·六端口网络接收方案 | 第52-54页 |
·六端口网络接收原理 | 第52-53页 |
·接收零点的消除 | 第53-54页 |
·零中频检波接收方案 | 第54-56页 |
·零中频检波接收方案原理 | 第54-55页 |
·本振干扰和接收零点的消除 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第五章 测试读写器射频单元设计实现 | 第57-73页 |
·射频收发单元设计 | 第57-59页 |
·AS3990芯片简介 | 第57-58页 |
·电路设计及注意事项 | 第58-59页 |
·锁相环单元设计 | 第59-61页 |
·锁相环单元简介 | 第59页 |
·电路设计及锁相环的控制 | 第59-61页 |
·功率放大单元设计 | 第61-63页 |
·功率放大单元简介 | 第61页 |
·相关协议分析 | 第61页 |
·方案选择及可行性分析 | 第61-62页 |
·电路设计及注意事项 | 第62-63页 |
·收发隔离单元设计 | 第63-64页 |
·收发隔离单元电路简介 | 第63页 |
·方案选择 | 第63-64页 |
·电路设计及注意事项 | 第64页 |
·射频板PCB设计 | 第64-68页 |
·板材选取及板层设计 | 第64-65页 |
·电路布局与布线 | 第65-67页 |
·传输线 | 第67-68页 |
·射频电路测试 | 第68-71页 |
·本章小结 | 第71-73页 |
第六章 有待继续研究的问题 | 第73-85页 |
·读写器灵敏度的分析研究 | 第73-81页 |
·现有灵敏度测试方案 | 第73-75页 |
·改进灵敏度测试方案 | 第75-81页 |
·灵敏度测试还需解决的问题 | 第81页 |
·测试读写器应进一步改进与完善的内容 | 第81-83页 |
·多频段符合性设计 | 第81-82页 |
·完善测试功能 | 第82页 |
·本课题进一步研究工作 | 第82-83页 |
·本章小结 | 第83-85页 |
结束语 | 第85-87页 |
参考文献 | 第87-91页 |
攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第91-93页 |
致谢 | 第93页 |