| 第一章 绪论 | 第1-34页 |
| ·微电子技术发展历程 | 第18-24页 |
| ·集成电路产品特征波动规律 | 第19-20页 |
| ·21世纪的微电子技术方向 | 第20-24页 |
| ·微电子设计方法学的演变 | 第24-26页 |
| ·SoC设计方法学 | 第26-32页 |
| ·集成电路进入SoC时代 | 第27页 |
| ·SoC主要研究内容 | 第27-32页 |
| ·片上总线技术 | 第27-29页 |
| ·IP重用技术 | 第29页 |
| ·软硬件协同设计技术 | 第29-30页 |
| ·SoC验证技术 | 第30-31页 |
| ·低功耗设计技术 | 第31-32页 |
| ·SoC发展趋势—Network on Chip | 第32页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第32-34页 |
| 第二章 NoC设计方法学 | 第34-55页 |
| ·引言 | 第34-39页 |
| ·NoC产生的技术背景 | 第35-37页 |
| ·国际研究动态 | 第37-39页 |
| ·国内研究动态 | 第39页 |
| ·NoC设计方法学 | 第39-48页 |
| ·NoC基本概念 | 第39-41页 |
| ·NoC体系结构 | 第41-46页 |
| ·片上通讯方式的演变 | 第41-42页 |
| ·拓扑结构 | 第42-45页 |
| ·资源节点 | 第45页 |
| ·通讯节点 | 第45-46页 |
| ·通讯协议 | 第46-48页 |
| ·NoC设计流程 | 第48-49页 |
| ·基于通讯的NoC设计 | 第49-54页 |
| ·基于通讯的设计 | 第49-50页 |
| ·基于通讯的NoC设计 | 第50-53页 |
| ·关键技术 | 第53-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 第三章 基于蚁群优化算法的NoC映射 | 第55-70页 |
| ·引言 | 第55-56页 |
| ·相关研究工作 | 第56-57页 |
| ·NoC平台 | 第57-58页 |
| ·体系结构 | 第57页 |
| ·通讯功耗模型 | 第57-58页 |
| ·功耗优先的映射问题描述 | 第58-59页 |
| ·基于蚁群优化算法的NoC映射 | 第59-66页 |
| ·映射问题的再次描述 | 第59-60页 |
| ·蚁群优化算法 | 第60-61页 |
| ·映射算法实现 | 第61-66页 |
| ·初始化 | 第62页 |
| ·解的构造 | 第62-63页 |
| ·局部搜索 | 第63-64页 |
| ·信息素更新 | 第64-65页 |
| ·映射算法 | 第65-66页 |
| ·实验 | 第66-69页 |
| ·小结 | 第69-70页 |
| 第四章 基于定向Ford-Fulkerson算法的NoC路径分配 | 第70-88页 |
| ·引言 | 第70-71页 |
| ·问题描述 | 第71-73页 |
| ·NoC通讯分析 | 第73-76页 |
| ·通讯延迟模型 | 第73-76页 |
| ·最短路径算法 | 第76-79页 |
| ·Dijkstra算法 | 第77页 |
| ·Floyd算法 | 第77-78页 |
| ·Ford-Fulkerson算法 | 第78-79页 |
| ·基于定向Ford-Fulkerson算法的路径分配 | 第79-87页 |
| ·定向Ford-Fulkerson算法 | 第79-84页 |
| ·单点对单点的数据传输 | 第84页 |
| ·单点对多点的数据传输 | 第84-86页 |
| ·多点对单点的数据传输 | 第86-87页 |
| ·小结 | 第87-88页 |
| 第五章 PCI总线接口芯片的研究与设计 | 第88-110页 |
| ·引言 | 第88-89页 |
| ·设计流程 | 第89-91页 |
| ·项目阶段 | 第89页 |
| ·设计流程 | 第89-91页 |
| ·芯片设计 | 第91-103页 |
| ·系统级设计 | 第91-93页 |
| ·PCI AD总线再复用技术 | 第93-99页 |
| ·PCI总线读写操作时序分析 | 第93-95页 |
| ·PCI AD总线再复用模型 | 第95-99页 |
| ·第三方硬IP核的集成 | 第99-103页 |
| ·硬IP核的选择 | 第100-101页 |
| ·硬IP核在RTL仿真中的集成 | 第101页 |
| ·硬IP核在综合中的集成 | 第101-102页 |
| ·硬IP核在物理设计和物理验证中的集成 | 第102-103页 |
| ·验证与测试 | 第103-109页 |
| ·软件仿真 | 第103-106页 |
| ·仿真平台 | 第103-105页 |
| ·测试计划和评价机制 | 第105-106页 |
| ·测试图形生成 | 第106-108页 |
| ·硬件仿真(FPGA验证) | 第108-109页 |
| ·芯片及整机测试 | 第109页 |
| ·小结 | 第109-110页 |
| 第六章 总结与展望 | 第110-113页 |
| ·总结 | 第110页 |
| ·展望 | 第110-113页 |
| 参考文献 | 第113-121页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第121-122页 |
| 附录：专业术语表 | 第122-123页 |