第1章 绪论 | 第1-23页 |
·微弧氧化技术及其发展 | 第10-16页 |
·发展历史及现状 | 第10-11页 |
·微弧氧化技术的基本原理 | 第11-12页 |
·微弧氧化技术及性能特点 | 第12-15页 |
·微弧氧化技术的应用领域 | 第15-16页 |
·涂层结合强度及测试方法 | 第16页 |
·绝缘陶瓷层的击穿原理及影响因素 | 第16-19页 |
·微弧氧化陶瓷层的击穿原理 | 第16-18页 |
·影响绝缘陶瓷层击穿的因素 | 第18-19页 |
·本课题研究目的及意义 | 第19-21页 |
·本课题研究内容及技术路线 | 第21-23页 |
·本课题的研究内容 | 第21-22页 |
·本课题的技术路线 | 第22-23页 |
第2章 镁合金微弧氧化陶瓷层的制备及性能测试 | 第23-29页 |
·实验装置及陶瓷层的制备 | 第23-24页 |
·微弧氧化装置 | 第23-24页 |
·陶瓷层的制备 | 第24页 |
·陶瓷层结合强度的测试 | 第24-26页 |
·剪切设备 | 第24-25页 |
·结合强度的测试流程 | 第25-26页 |
·陶瓷层绝缘强度的测试 | 第26-27页 |
·击穿电压的测量 | 第26页 |
·厚度的测量 | 第26-27页 |
·盐雾试验及耐蚀性评价方法 | 第27页 |
·盐雾试验 | 第27页 |
·耐蚀性评价方法 | 第27页 |
·陶瓷层的组织结构检测与分析 | 第27-29页 |
·表面与截面形貌分析 | 第27页 |
·相组成分析 | 第27-28页 |
·溶液电导率的测定 | 第28页 |
·表面接触角的测试 | 第28页 |
·其他 | 第28-29页 |
第3章 镁合金微弧氧化陶瓷层结合强度的研究 | 第29-45页 |
·陶瓷层膜基结合形式分析 | 第29-30页 |
·剪切试验断裂分析 | 第30-38页 |
·陶瓷层与树脂间断裂 | 第34页 |
·陶瓷层内断裂 | 第34-36页 |
·膜基断裂 | 第36-37页 |
·混合断裂 | 第37-38页 |
·影响陶瓷层结合强度的因素 | 第38-43页 |
·能量参数的影响 | 第38-39页 |
·氧化时间的影响 | 第39-41页 |
·溶液电导率的影响 | 第41-43页 |
·其它因素的影响 | 第43页 |
·本章小结 | 第43-45页 |
第4章 镁合金微弧氧化陶瓷层的绝缘强度及其耐蚀性的研究 | 第45-63页 |
·陶瓷层绝缘强度的研究 | 第45-52页 |
·电流密度对陶瓷层厚度及绝缘强度的影响 | 第45-47页 |
·频率对陶瓷层厚度及绝缘强度的影响 | 第47-48页 |
·占空比对陶瓷层厚度及绝缘强度的影响 | 第48-50页 |
·工艺优化后陶瓷层的绝缘强度 | 第50-52页 |
·陶瓷层耐蚀性的研究 | 第52-59页 |
·陶瓷层腐蚀机理分析 | 第52-57页 |
·表面能对陶瓷层耐蚀性的影响 | 第57-59页 |
·陶瓷层的绝缘强度与其耐蚀性的关系 | 第59-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
第5章 结论 | 第63-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-71页 |
附录 | 第71页 |