一种软X射线荧光探测方法的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-17页 |
| ·X射线荧光分析技术的国内外进展 | 第7-8页 |
| ·软X射线荧光探测方法概述 | 第8-16页 |
| ·光学结构 | 第8-13页 |
| ·探测器 | 第13-16页 |
| ·色散系统 | 第16页 |
| ·研究的目的和意义 | 第16页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第二章 X射线荧光理论 | 第17-28页 |
| ·软X射线荧光探测基本概念 | 第17-20页 |
| ·原子的壳层结构 | 第17-19页 |
| ·轨道电子结合能和临界激发能 | 第19-20页 |
| ·X射线荧光(特征X射线)的产生 | 第20页 |
| ·软X射线荧光的特点 | 第20-25页 |
| ·软X射线荧光的吸收 | 第20-24页 |
| ·激发因子 | 第24-25页 |
| ·掠射探测方法原理 | 第25-27页 |
| ·X射线荧光的探测器理论 | 第27-28页 |
| 第三章 软X射线荧光测量装置 | 第28-39页 |
| ·光学结构的选择 | 第28-29页 |
| ·软X射线荧光测量装置的组成 | 第29-36页 |
| ·激发单元 | 第29-31页 |
| ·探测单元 | 第31-36页 |
| ·软X射线荧光测量装置的定标 | 第36-39页 |
| ·坪特性曲线的测量和工作电压的确定 | 第36-37页 |
| ·分辨率的测定 | 第37页 |
| ·死时间的测定 | 第37-38页 |
| ·多道脉冲高度分析器(MCA)能量刻度 | 第38-39页 |
| 第四章 软X射线荧光测量装置测量误差及其实验研究 | 第39-54页 |
| ·软X射线荧光测量装置的测量误差 | 第39-46页 |
| ·软X射线荧光测量装置测量误差产生的原因 | 第39-43页 |
| ·软X射线荧光测量装置测量精密度的测定 | 第43-45页 |
| ·软X射线荧光测量装置测量准确度的测定 | 第45-46页 |
| ·软X射线荧光测量实验研究 | 第46-54页 |
| ·掠出射X射线荧光光谱的测定 | 第46-48页 |
| ·掠出射X射线荧光光潜强度的实验研究 | 第48-53页 |
| ·硬铝2A12荧光光谱探讨 | 第53-54页 |
| 第五章 总结 | 第54-56页 |
| ·本文的主要成果 | 第54页 |
| ·问题和展望 | 第54-56页 |
| 参考文献: | 第56-62页 |
| 在读期间发表论文情况 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
