| 第一章 模拟开关的概况和发展 | 第1-25页 |
| ·模拟开关的概况 | 第7-19页 |
| ·模拟开关的概述 | 第7页 |
| ·CMOS模拟开关 | 第7-14页 |
| ·PIN高频模拟开关 | 第14-16页 |
| ·射频微机械开关 | 第16-19页 |
| ·模拟开关的发展 | 第19-24页 |
| 参考文献 | 第24-25页 |
| 第二章 模拟开关芯片的拓扑结构设计 | 第25-43页 |
| ·设计目标及意义 | 第25-26页 |
| ·设计目标 | 第25页 |
| ·设计意义 | 第25-26页 |
| ·模拟开关芯片的设计与模拟 | 第26-42页 |
| ·总体方案设计 | 第26-28页 |
| ·模拟开关的设计 | 第28-36页 |
| ·电压基准源的设计 | 第36-39页 |
| ·移位寄存器的设计 | 第39-42页 |
| 参考文献 | 第42-43页 |
| 第三章 模拟开关芯片的版图实现与研制 | 第43-57页 |
| ·模拟开关芯片的版图实现 | 第43-52页 |
| ·模拟开关单元的版图实现 | 第43-48页 |
| ·电压基准源的版图实现 | 第48-50页 |
| ·移位寄存器的版图实现 | 第50-51页 |
| ·总体版图实现 | 第51-52页 |
| ·模拟开关芯片的制造 | 第52-56页 |
| ·模拟开关芯片的流片 | 第52-53页 |
| ·模拟开关芯片的封装 | 第53-55页 |
| ·模拟开关芯片的照片 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-57页 |
| 第四章 测试结果和分析 | 第57-89页 |
| ·测试内容 | 第57-60页 |
| ·主要测试参数分析 | 第57-59页 |
| ·测试方案设计 | 第59-60页 |
| ·模拟开关芯片的基本性能测试 | 第60-73页 |
| ·模拟开关单元的开关特性测试 | 第60-63页 |
| ·模拟开关单元的加权特性测试 | 第63-71页 |
| ·移位寄存器的性能测试 | 第71-73页 |
| ·模拟开关芯片的整体功能测试 | 第73-87页 |
| ·对110MHz SAWF进行加权控制的在线测试结果与分析 | 第73-80页 |
| ·对163MHz SAWF进行加权控制的在线测试结果与分析 | 第80-84页 |
| ·对155MHz和163MHz双声路进行加权控制的在线测试结果与分析 | 第84-87页 |
| ·测试结果小结 | 第87-88页 |
| 参考文献 | 第88-89页 |
| 第五章 总结 | 第89-91页 |
| 附录 | 第91-92页 |
| 研究生期间发表论文 | 第92-93页 |
| 致谢 | 第93页 |
