| 第一章 序言 | 第1-19页 |
| ·无损检测技术 | 第13-14页 |
| ·漏磁检测技术 | 第14页 |
| ·漏磁检测技术国内外研究现状 | 第14-16页 |
| ·检测监控软件系统的研究现状 | 第16页 |
| ·本人在课题中所做的工作及意义 | 第16-17页 |
| ·本文的主要内容 | 第17-19页 |
| 第二章 漏磁检测理论基础 | 第19-25页 |
| ·物质的磁性 | 第19页 |
| ·漏磁检测基本原理 | 第19-20页 |
| ·二维漏磁检测原理 | 第20-22页 |
| ·二维漏磁检测 | 第20-21页 |
| ·磁场的边界条件和磁屏蔽原理 | 第21-22页 |
| ·二维漏磁检测的磁化方式 | 第22页 |
| ·缺陷参数与漏磁信号的相互关系 | 第22-25页 |
| 第三章 漏磁场模型建立及信号处理技术 | 第25-38页 |
| ·建立漏磁场模型的两种方法 | 第25-28页 |
| ·磁偶极子法 | 第25-27页 |
| ·有限元法 | 第27-28页 |
| ·信号处理技术 | 第28-34页 |
| ·模拟信号预处理 | 第28-30页 |
| ·计算机中的数字信号处理 | 第30-33页 |
| ·漏磁信号中的有关特征量 | 第33-34页 |
| ·检测系统中的缺陷判别技术 | 第34-35页 |
| ·缺陷信号的判断 | 第34-35页 |
| ·内、外缺陷的判别 | 第35页 |
| ·粗糙表面形成的信号的判别 | 第35页 |
| ·二维漏磁检测系统中对缺陷的判定流程 | 第35-38页 |
| 第四章 系统的硬件结构组成及性能要求 | 第38-52页 |
| ·计算机在无损检测中的应用 | 第38-41页 |
| ·计算机接口技术 | 第38-39页 |
| ·接口的基本功能 | 第39页 |
| ·I/O同步控制方式 | 第39-41页 |
| ·检测系统硬件结构 | 第41-44页 |
| ·硬件控制处理电路板 | 第42页 |
| ·HY-6070c数据采集控制板 | 第42-44页 |
| ·检测设备的整体结构及整机信号形成 | 第44-47页 |
| ·二维漏磁检测系统中的硬件工作方式及接口信号的设置 | 第47-49页 |
| ·可视化漏磁检测系统中HY-6070c数据采集板的工作方式 | 第47-48页 |
| ·计算机输入输出接口信号 | 第48-49页 |
| ·检测系统的技术参照标准 | 第49-51页 |
| ·有关承压管道高速检测技术的国际标准 | 第49-50页 |
| ·有关承压管道高速检测技术的国家标准 | 第50页 |
| ·本检测系统所采用的标准 | 第50-51页 |
| ·检测设备的主要技术指标和性能 | 第51-52页 |
| 第五章 可视化检测系统的软件设计 | 第52-72页 |
| ·软件开发基础 | 第52-59页 |
| ·Windows9x的虚拟环境 | 第52-54页 |
| ·与软件开发相关的中断基本概念 | 第54-55页 |
| ·Win9x环境下的硬件中断原理 | 第55-56页 |
| ·VC++数据库开发 | 第56-59页 |
| ·软件开发工具 | 第59-60页 |
| ·Visual C++ 6.0 | 第59页 |
| ·VxD开发工具VtoolsD | 第59-60页 |
| ·数据库开发管理工具Access | 第60页 |
| ·软件设计与介绍 | 第60-72页 |
| ·软件设计 | 第60-66页 |
| ·软件介绍 | 第66-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |