| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1 CT简介 | 第8-10页 |
| ·CT概述 | 第8页 |
| ·CT的发展简史 | 第8-9页 |
| ·CT重建算法 | 第9页 |
| ·CT图像中的误差 | 第9-10页 |
| 2 本文的主要工作 | 第10-11页 |
| ·研究背景 | 第10-11页 |
| ·本文主要贡献 | 第11页 |
| 3 本文结构安排 | 第11-12页 |
| 第二章 CT的理论基础 | 第12-19页 |
| 1 投影理论 | 第12-13页 |
| 2 Radon变换 | 第13-16页 |
| ·Radon变换的定义 | 第13-14页 |
| ·Radon变换的性质 | 第14-16页 |
| 3 逆Radon变换 | 第16-17页 |
| 4 滤波反投影算法 | 第17-19页 |
| ·中心切片定理 | 第17页 |
| ·滤波反投影算法 | 第17-18页 |
| ·滤波反投影算法的流程 | 第18-19页 |
| 第三章 射束硬化问题及其校正方法 | 第19-26页 |
| 1 射束硬化 | 第19-20页 |
| 2 射束硬化伪迹产生的原因 | 第20-21页 |
| 3 校正方法 | 第21-26页 |
| ·多项式近似 | 第21-22页 |
| ·迭代解 | 第22页 |
| ·双能量扫描 | 第22-24页 |
| ·单能方法 | 第24页 |
| ·双能方法 | 第24-25页 |
| ·模型的方法 | 第25-26页 |
| 第四章 X射线能谱估计算法及单成分被测物体的射束硬化校正算法 | 第26-36页 |
| 1 对X射线能谱的估计 | 第26-29页 |
| ·算法的基本思想 | 第26页 |
| ·求解能谱及物质的质量衰减系数的算法 | 第26-28页 |
| ·计算机模拟结果 | 第28-29页 |
| 2 基于单成分被测物体的射束硬化校正算法 | 第29-36页 |
| ·问题 | 第29-30页 |
| ·校正算法 | 第30-31页 |
| ·计算机模拟结果 | 第31-34页 |
| ·算法的收敛性证明 | 第34-36页 |
| 第五章 双成分被测物体的射束硬化校正算法 | 第36-42页 |
| 1 理论背景 | 第36-37页 |
| 2 校正算法 | 第37-38页 |
| 3 计算机模拟结果 | 第38-41页 |
| ·测试数据 | 第38-39页 |
| ·模拟结果 | 第39-41页 |
| 4 讨论 | 第41-42页 |
| 第六章 总结和展望 | 第42-44页 |
| 1 总结 | 第42页 |
| 2 展望 | 第42-44页 |
| 参考文献 | 第44-46页 |
| 致谢 | 第46-47页 |