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高速电容层析成像系统设计

致谢第1-7页
摘要第7-8页
Abstract第8-9页
目录第9-11页
第1章 绪论第11-17页
   ·两相流及其检测技术第12页
   ·过程层析成像技术第12-13页
   ·ECT系统的技术要点和存在问题第13-14页
   ·本文主要内容第14-15页
   ·本章小结第15-17页
第2章 文献综述第17-29页
   ·ECT技术综述第18-25页
     ·ECT技术发展历程及现状第18页
     ·ECT技术的基本原理第18-20页
     ·ECT电容传感器第20-21页
     ·电容数据采集系统第21-24页
     ·ECT通讯方式第24-25页
   ·USB技术综述第25-27页
     ·USB简介第25-26页
     ·USB发展历程第26-27页
   ·本章小结第27-29页
第3章 高速ECT系统硬件设计第29-64页
   ·概述第30-31页
   ·硬件系统的总体设计第31-32页
   ·微弱电容的测量第32-39页
     ·传感器优化设计第32页
     ·差分采样法第32-36页
     ·微弱电容的测量模型第36-37页
     ·C/V转换电路的结构第37-39页
   ·高速数据采集系统第39-51页
     ·DSP处理模块设计第39-45页
     ·CPLD辅助控制第45-47页
     ·A/D转换模块第47-51页
   ·通讯方案第51-61页
     ·USB通讯协议第51-58页
     ·芯片选型第58-59页
     ·DSP+USB的通讯方案第59-61页
   ·系统结构设计第61-62页
   ·本章小结第62-64页
第4章 系统软件设计第64-78页
   ·下位机软件设计第65-75页
     ·程序的结构第65页
     ·主程序设计第65-69页
     ·初始化程序模块第69-70页
     ·写flash模块第70-71页
     ·通讯程序模块第71-72页
     ·命令解析模块第72-73页
     ·数据采集和处理模块第73-75页
     ·自检测模块第75页
   ·USB固件设计第75-76页
     ·固件的功能第75页
     ·固件的接口函数第75-76页
     ·固件的构成第76页
   ·其它程序设计第76-77页
   ·本章小结第77-78页
第5章 性能测试第78-86页
   ·微弱电容测量电路的性能第79-81页
     ·线性度第79-80页
     ·灵敏度第80-81页
   ·静态性能测试第81-82页
   ·动态性能测试第82-85页
   ·本章小结第85-86页
第6章 结论与建议第86-88页
参考文献第88-92页
作者简介第92页

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