有机功能薄膜的制备及基于SPM的表征与加工
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 前言 | 第8-10页 |
| 第一章 文献综述 | 第10-30页 |
| ·有机功能材料的种类 | 第11-14页 |
| ·有机半导体 | 第11-12页 |
| ·有机导体和超导体 | 第12页 |
| ·导电聚合物 | 第12-13页 |
| ·有机铁磁体和有机铁电体 | 第13页 |
| ·有机非线性光学材料 | 第13-14页 |
| ·有机功能薄膜的制备技术 | 第14-16页 |
| ·Langmuir-Blodgett(LB)技术 | 第14-15页 |
| ·有机分子束外延(OMBE) | 第15页 |
| ·自组装技术 | 第15-16页 |
| ·有机功能薄膜器件 | 第16-21页 |
| ·有机发光二极管(OLED) | 第17-18页 |
| ·有机场效应晶体管(OFET) | 第18-19页 |
| ·分子电子器件 | 第19-21页 |
| ·SPM在纳米/分子电子学中的应用 | 第21-26页 |
| ·原子分子的操纵 | 第21-22页 |
| ·基于SPM的纳米加工 | 第22-24页 |
| ·基于SPM技术的纳米信息存储 | 第24-25页 |
| ·构造新的功能分子和分子器件 | 第25-26页 |
| 参考文献 | 第26-30页 |
| 第二章 胶体晶体的制备方法 | 第30-42页 |
| ·引言 | 第30-31页 |
| ·单分散聚苯乙烯微球的制备 | 第31页 |
| ·旋转辅助法制备胶体晶体 | 第31-34页 |
| ·水平双基片法制备胶体晶体 | 第34-37页 |
| ·垂直沉积法 | 第37-39页 |
| ·三种方法的比较 | 第39-40页 |
| ·小结 | 第40页 |
| 参考文献 | 第40-42页 |
| 第三章 垂直沉积法制备胶体晶体的研究 | 第42-67页 |
| ·引言 | 第42-43页 |
| ·实验部分 | 第43页 |
| ·实验结果 | 第43-56页 |
| ·基底的影响 | 第43-45页 |
| ·浓度的影响 | 第45-47页 |
| ·温度的影响 | 第47-50页 |
| ·悬浮液pH值的影响 | 第50-54页 |
| ·表面活性剂的影响 | 第54-56页 |
| ·讨论 | 第56-64页 |
| ·垂直沉积法的成膜机理 | 第56-59页 |
| ·胶体晶体的光学性质 | 第59-60页 |
| ·胶体晶体的排列方式 | 第60页 |
| ·胶体晶体的量化分析 | 第60-62页 |
| ·静电力对胶体晶体成膜的影响 | 第62-63页 |
| ·改善胶体晶体成膜质量的可行方法 | 第63-64页 |
| ·小结 | 第64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 第四章 胶体球在SPM纳米计量上的应用 | 第67-86页 |
| ·Ag点阵结构和Ag环阵列的构建 | 第67-71页 |
| ·引言 | 第67-68页 |
| ·实验部分 | 第68-69页 |
| ·结果与讨论 | 第69-71页 |
| ·制备栅状胶体晶体用于SPM的三维校准 | 第71-76页 |
| ·引言 | 第71-72页 |
| ·实验部分 | 第72页 |
| ·结果与讨论 | 第72-76页 |
| ·基于胶体球无损探测AFM针尖形状的方法 | 第76-83页 |
| ·引言 | 第76-77页 |
| ·建立数学模型 | 第77-79页 |
| ·实验部分 | 第79-80页 |
| ·结果与讨论 | 第80-83页 |
| ·小结 | 第83页 |
| 参考文献 | 第83-86页 |
| 第五章 有机电双稳薄膜的SPM加工 | 第86-98页 |
| ·引言 | 第86-88页 |
| ·实验部分 | 第88-89页 |
| ·结果与讨论 | 第89-96页 |
| ·Ag-TCNQ薄膜的表面形貌 | 第89页 |
| ·针尖样品间距的影响 | 第89-90页 |
| ·脉冲幅度的影响 | 第90-92页 |
| ·脉冲宽度与次数的影响 | 第92页 |
| ·脉冲极性的影响 | 第92-95页 |
| ·制备Ag-TCNQ纳米导线和纳米信息点阵 | 第95-96页 |
| ·小结 | 第96页 |
| 参考文献 | 第96-98页 |
| 第六章 有机铁电聚合物薄膜电学疲劳的微观观测 | 第98-120页 |
| ·引言 | 第98-100页 |
| ·实验方法 | 第100-102页 |
| ·有机铁电聚合物薄膜的制备和表征 | 第100页 |
| ·薄膜铁电疲劳的宏观测定 | 第100-101页 |
| ·薄膜铁电疲劳的微观测定 | 第101-102页 |
| ·实验结果 | 第102-113页 |
| ·退火温度对结晶度的影响 | 第102-104页 |
| ·结晶度对聚合物薄膜形貌的影响 | 第104-105页 |
| ·结晶度对薄膜宏观铁电疲劳的影响 | 第105-107页 |
| ·有机薄膜铁电疲劳的微观观测 | 第107-111页 |
| ·有机铁电聚合物薄膜疲劳恢复的研究 | 第111-113页 |
| ·讨论 | 第113-116页 |
| ·结晶度对聚合物铁电特性的影响 | 第113页 |
| ·非晶态和晶态矫顽场的比较 | 第113-114页 |
| ·结晶度对铁电聚合物宏观疲劳现象的研究 | 第114-115页 |
| ·铁电聚合物微观铁电疲劳的研究 | 第115-116页 |
| ·关于铁电聚合物疲劳恢复的研究 | 第116页 |
| ·小结 | 第116-117页 |
| 参考文献 | 第117-120页 |
| 第七章 总结 | 第120-121页 |
| 致谢 | 第121-122页 |
| 学术成果 | 第122-124页 |
