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一种用于暗电流消除的数字解压系统设计

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-7页
第一章 绪论第7-14页
   ·课题背景第7-12页
     ·CMOS图像传感器的发展概况第7-9页
     ·数字压缩技术简介第9-11页
     ·国内外发展现状和前景第11-12页
   ·课题主要研究内容与方向第12-13页
   ·论文章节安排第13-14页
第二章 基于CMOS图像传感器去暗电流的数据压缩系统架构第14-34页
   ·CMOS图像传感器暗电流不一致性第14-17页
     ·暗电流不一致性第14-16页
     ·暗电流系数矩阵求解验证第16-17页
   ·CMOS图像传感器数据压缩系统架构第17-21页
     ·消除暗电流流程第17-18页
     ·CMOS图像传感器解压去暗电流系统架构第18-20页
     ·CMOS图像传感器解压系统时序控制第20-21页
   ·压缩算法设计第21-32页
     ·压缩算法简介第21-23页
     ·经典压缩算法第23-25页
     ·DPCM-Huffman组合压缩算法第25-30页
     ·算法验证第30-32页
   ·小结第32-34页
第三章 数据解压系统设计第34-57页
   ·数据解压系统概述第34页
   ·Flash存储器第34-38页
     ·Flash存储器简介第34-35页
     ·MX25L8035E型Flash存储器简介第35-38页
   ·Flash控制模块的设计第38-45页
     ·SPI总线协议简介第38-40页
     ·Flash控制模块设计第40-43页
     ·Flash控制模块的仿真与逻辑综合第43-45页
   ·Huffman解码模块的设计第45-49页
     ·Huffman解码的基本原理第45-46页
     ·Huffman解码模块的设计第46-48页
     ·Huffman解码模块仿真与逻辑综合第48-49页
   ·DPCM解码与去暗电流模块设计第49-54页
     ·DPCM解码的基本原理第49-50页
     ·DPCM解码与去暗电流模块的设计第50-52页
     ·DPCM解码与去暗电流模块的仿真与逻辑综合第52-54页
   ·图像压缩系统的仿真与综合第54-56页
   ·本章小结第56-57页
第四章 测试与测试平台第57-66页
   ·软件测试第57-61页
     ·测试简介第57-59页
     ·算法测试设计第59-61页
     ·算法测试结果第61页
   ·硬件测试第61-65页
     ·测试简介第61-62页
     ·本文系统的硬件测试第62-63页
     ·测试设计第63页
     ·测试结果第63-65页
   ·本章小结第65-66页
第五章 总结与展望第66-68页
   ·总结第66页
   ·展望第66-68页
参考文献第68-70页
发表论文和参加科研情况说明第70-71页
致谢第71页

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