| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-28页 |
| ·研究背景 | 第10页 |
| ·TeO_x 基非线性光学材料的研究现状 | 第10-27页 |
| ·TeO_x 基材料及其非线性光学性质 | 第10-17页 |
| ·溶胶-凝胶法制备TeO_x 基材料 | 第17-21页 |
| ·电化学-溶胶凝胶法在材料制备方面的研究 | 第21-24页 |
| ·Z-扫描法测试材料非线性光学性能的研究 | 第24-27页 |
| ·小结 | 第27页 |
| ·本论文的主要研究内容及方法 | 第27-28页 |
| 2 实验部分 | 第28-42页 |
| ·仪器及试剂 | 第28-29页 |
| ·主要仪器及设备 | 第28页 |
| ·实验用到的器皿及试剂 | 第28-29页 |
| ·实验方法及原理 | 第29-42页 |
| ·TeO_2-SiO_2 复合溶胶和凝胶的制备 | 第29-30页 |
| ·红外光谱测试 | 第30页 |
| ·热重-差热分析 | 第30-31页 |
| ·溶胶的电化学性质测试 | 第31-35页 |
| ·电化学-溶胶凝胶法制备TeO_2-SiO_2 复合薄膜材料 | 第35页 |
| ·薄膜热处理 | 第35-36页 |
| ·薄膜厚度测试 | 第36-37页 |
| ·薄膜的常规光学性能测试 | 第37页 |
| ·薄膜的非线性光学性能测试 | 第37-39页 |
| ·薄膜的形貌、组成及微结构表征 | 第39-42页 |
| 3 TeO_2-SiO_2复合溶胶的制备及其胶凝过程研究 | 第42-62页 |
| ·TeO_2-SiO_2 复合溶胶的制备 | 第42-45页 |
| ·溶胶配制过程中发生的化学反应 | 第45-47页 |
| ·溶胶胶凝过程的红外光谱研究 | 第47-54页 |
| ·先驱体的FTIR 表征 | 第47-48页 |
| ·溶胶的FTIR 测试 | 第48-51页 |
| ·溶胶的胶凝化研究 | 第51-53页 |
| ·凝胶的红外光谱 | 第53-54页 |
| ·干凝胶的热重差热分析 | 第54-57页 |
| ·干凝胶热处理过程的FTIR 研究 | 第57-59页 |
| ·干凝胶的XRD 及SEM 表征 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 4 TeO_2-SiO_2复合溶胶的直接电化学研究 | 第62-94页 |
| ·乙醇溶液体系的电化学性质 | 第62-68页 |
| ·乙醇溶液体系在ITO 电极上的循环伏安行为 | 第62-64页 |
| ·ITO 电极不同起始扫描方向的CV 行为 | 第64-65页 |
| ·电极材质对醇溶液体系电化学行为的影响 | 第65-67页 |
| ·Au 及GC 电极不同起始扫描方向的CV 行为 | 第67-68页 |
| ·SiO_2 溶胶的电化学性质 | 第68-82页 |
| ·SiO_2 溶胶的循环伏安行为 | 第68-71页 |
| ·Tafel 曲线测试 | 第71-73页 |
| ·SiO_2 溶胶的交流阻抗研究 | 第73-82页 |
| ·TeO_2-SiO_2 复合溶胶的电化学性质 | 第82-93页 |
| ·循环伏安测试 | 第82-84页 |
| ·Tafel 曲线测试 | 第84页 |
| ·交流阻抗谱测试 | 第84-93页 |
| ·本章小结 | 第93-94页 |
| 5 Te/TeO_2-SiO_2复合薄膜的电化学-溶胶凝胶法制备及其表征 | 第94-108页 |
| ·电化学-溶胶凝胶制备方法 | 第94-96页 |
| ·电化学诱导沉积薄膜的FTIR 研究 | 第96-98页 |
| ·薄膜的表面形貌、组成及结构分析 | 第98-106页 |
| ·薄膜的SEM-EDS 表征 | 第98-102页 |
| ·薄膜的XRD 表征 | 第102-104页 |
| ·薄膜的XPS 表征 | 第104-106页 |
| ·本章小结 | 第106-108页 |
| 6 α-TeO_2-Te/TeO_2-SiO_2复合薄膜的制备及表征 | 第108-114页 |
| ·薄膜沉积物的TG-DTA 测试 | 第108-109页 |
| ·薄膜的热处理过程研究 | 第109-112页 |
| ·热处理对组成的影响 | 第109-110页 |
| ·热处理薄膜的表面形貌 | 第110-111页 |
| ·热处理薄膜的XRD 表征 | 第111-112页 |
| ·本章小结 | 第112-114页 |
| 7 复合薄膜的线性及非线性光学性质研究 | 第114-134页 |
| ·薄膜的线性光学性质研究 | 第114-121页 |
| ·薄膜线性光学参数计算 | 第114-115页 |
| ·薄膜厚度测试 | 第115-117页 |
| ·薄膜的紫外-可见光谱测试 | 第117-121页 |
| ·薄膜Z-scan 测试 | 第121-129页 |
| ·薄膜的非线性光学性能 | 第121-125页 |
| ·薄膜的非线性光学参数与制备条件的关系 | 第125-127页 |
| ·薄膜非线性性质产生机理的讨论 | 第127-129页 |
| ·小孔孔径对测试结果的影响 | 第129-132页 |
| ·脉冲频率对测试结果的影响 | 第132-133页 |
| ·本章小结 | 第133-134页 |
| 8 结论及建议 | 第134-136页 |
| ·结论 | 第134-135页 |
| ·建议 | 第135-136页 |
| 致谢 | 第136-138页 |
| 参考文献 | 第138-146页 |
| 附录 | 第146页 |
| A. 作者在攻读博士学位期间发表的论文目录 | 第146页 |
| B. 作者在攻读博士学位期间参加的科研项目 | 第146页 |
