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X射线检测制导光纤缠绕缺陷的研究

摘要第1-4页
Abstract第4-5页
目录第5-8页
注释表第8-9页
1 绪论第9-17页
   ·本文研究背景第9-15页
     ·光纤制导技术简述第9-11页
     ·光纤制导技术国内外研究现状及发展趋势第11-12页
     ·课题的提出及意义第12页
     ·射线检测简述第12-15页
     ·射线检测的意义第15页
   ·本文的主要工作第15-17页
     ·理论分析部分第15-16页
     ·实验部分第16-17页
2 射线检测技术理论基础和基本技术第17-25页
   ·射线检测基本原理第17-18页
   ·射线照相影像质量因素第18-21页
     ·影像质量对比度第19页
     ·影像质量不清晰度第19-21页
     ·影像颗粒度第21页
   ·细节缺陷影像的可识别性第21-22页
   ·基本透照参数第22-24页
     ·射线能量第22-23页
     ·焦点、焦距的选择第23页
     ·曝光量计算第23-24页
   ·本章小结第24-25页
3 光纤线包缠绕缺陷的研究第25-33页
   ·与绕组体积及结构有关的缺陷第25-28页
     ·匝间间隙过大与回叠第25-26页
     ·跨越过大或过小第26-28页
   ·与放线有关的缺陷第28-29页
     ·陷入缺陷第28-29页
     ·绕组松弛第29页
   ·与传输损耗有关的缺陷第29-30页
     ·宏弯传输损耗第29页
     ·微弯传输损耗第29-30页
   ·光纤张力及滞后角对缠绕样式的影响第30-31页
     ·光纤张力对缠绕的影响第30页
     ·滞后角对缠绕的影响第30-31页
   ·环境因素对光纤缺陷的影响第31-32页
     ·贮存环境的影响第32页
     ·工作环境的影响第32页
   ·本章小结第32-33页
4 X射线扫描光纤缠绕缺陷的研究第33-58页
   ·可行性理论模拟分析第33-41页
     ·可行性计算分析第33-34页
     ·可行性数值模拟第34-40页
       ·纵向扫描数值模拟第34-37页
       ·截面扫描数值模拟第37-39页
       ·不同斜射角度扫描数值模拟第39-40页
     ·可行性小结第40-41页
   ·单层光纤衰减分析第41-45页
     ·实验方法及装置第41-42页
     ·实验数据分析及处理第42-45页
     ·实验小结第45页
   ·缠绕缺陷图片检测及分析第45-48页
     ·拍摄图片分析第45-47页
     ·实验小结第47-48页
   ·点X射线扫描光纤缠绕缺陷检测第48-57页
     ·实验方法及装置第48-50页
     ·实验数据分析及处理第50-55页
       ·第一组实验第50-52页
       ·第二组实验第52-54页
       ·第三组实验第54-55页
     ·实验小结第55-57页
   ·本章小结第57-58页
5 结论与展望第58-60页
   ·结论第58页
   ·展望第58-60页
致谢第60-61页
参考文献第61-64页
附录第64-66页

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