X射线检测制导光纤缠绕缺陷的研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
目录 | 第5-8页 |
注释表 | 第8-9页 |
1 绪论 | 第9-17页 |
·本文研究背景 | 第9-15页 |
·光纤制导技术简述 | 第9-11页 |
·光纤制导技术国内外研究现状及发展趋势 | 第11-12页 |
·课题的提出及意义 | 第12页 |
·射线检测简述 | 第12-15页 |
·射线检测的意义 | 第15页 |
·本文的主要工作 | 第15-17页 |
·理论分析部分 | 第15-16页 |
·实验部分 | 第16-17页 |
2 射线检测技术理论基础和基本技术 | 第17-25页 |
·射线检测基本原理 | 第17-18页 |
·射线照相影像质量因素 | 第18-21页 |
·影像质量对比度 | 第19页 |
·影像质量不清晰度 | 第19-21页 |
·影像颗粒度 | 第21页 |
·细节缺陷影像的可识别性 | 第21-22页 |
·基本透照参数 | 第22-24页 |
·射线能量 | 第22-23页 |
·焦点、焦距的选择 | 第23页 |
·曝光量计算 | 第23-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
3 光纤线包缠绕缺陷的研究 | 第25-33页 |
·与绕组体积及结构有关的缺陷 | 第25-28页 |
·匝间间隙过大与回叠 | 第25-26页 |
·跨越过大或过小 | 第26-28页 |
·与放线有关的缺陷 | 第28-29页 |
·陷入缺陷 | 第28-29页 |
·绕组松弛 | 第29页 |
·与传输损耗有关的缺陷 | 第29-30页 |
·宏弯传输损耗 | 第29页 |
·微弯传输损耗 | 第29-30页 |
·光纤张力及滞后角对缠绕样式的影响 | 第30-31页 |
·光纤张力对缠绕的影响 | 第30页 |
·滞后角对缠绕的影响 | 第30-31页 |
·环境因素对光纤缺陷的影响 | 第31-32页 |
·贮存环境的影响 | 第32页 |
·工作环境的影响 | 第32页 |
·本章小结 | 第32-33页 |
4 X射线扫描光纤缠绕缺陷的研究 | 第33-58页 |
·可行性理论模拟分析 | 第33-41页 |
·可行性计算分析 | 第33-34页 |
·可行性数值模拟 | 第34-40页 |
·纵向扫描数值模拟 | 第34-37页 |
·截面扫描数值模拟 | 第37-39页 |
·不同斜射角度扫描数值模拟 | 第39-40页 |
·可行性小结 | 第40-41页 |
·单层光纤衰减分析 | 第41-45页 |
·实验方法及装置 | 第41-42页 |
·实验数据分析及处理 | 第42-45页 |
·实验小结 | 第45页 |
·缠绕缺陷图片检测及分析 | 第45-48页 |
·拍摄图片分析 | 第45-47页 |
·实验小结 | 第47-48页 |
·点X射线扫描光纤缠绕缺陷检测 | 第48-57页 |
·实验方法及装置 | 第48-50页 |
·实验数据分析及处理 | 第50-55页 |
·第一组实验 | 第50-52页 |
·第二组实验 | 第52-54页 |
·第三组实验 | 第54-55页 |
·实验小结 | 第55-57页 |
·本章小结 | 第57-58页 |
5 结论与展望 | 第58-60页 |
·结论 | 第58页 |
·展望 | 第58-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-64页 |
附录 | 第64-66页 |