首页--工业技术论文--一般工业技术论文--工程材料学论文--特种结构材料论文

红外窗口用二氧化硅/氧化钇增透膜的优化制备与评价

摘要第1-5页
Abstract第5-10页
第1章 绪论第10-22页
   ·研究背景第10-14页
   ·提高蓝宝石高温强度的途径第14-17页
     ·热处理增加高温强度第15页
     ·中子光掺入法第15-16页
     ·镀膜方法第16-17页
     ·增加晶体缺陷提高蓝宝石压缩强度第17页
   ·增透保护薄膜的制备方法第17-18页
   ·二氧化硅和氧化钇薄膜性质第18-20页
     ·二氧化硅薄膜的性能第18-20页
     ·氧化钇薄膜的性能第20页
   ·本文的主要研究内容第20-22页
第2章 薄膜的制备和表征第22-30页
   ·磁控溅射结构组成第22-23页
   ·工艺参数的选择第23-24页
     ·基本的工艺参数第23-24页
   ·工艺流程第24-26页
   ·薄膜表征方法第26-28页
     ·X射线衍射仪第26页
     ·X射线光电子能谱仪第26页
     ·扫描电子显微镜第26-27页
     ·原子力显微镜第27页
     ·椭偏仪第27-28页
     ·红外分光光度计第28页
     ·微米划痕仪第28页
   ·本章小结第28-30页
第3章 膜系设计与优化分析第30-37页
   ·膜系设计的基本理论第30-31页
   ·蓝宝石衬底上增透保护膜系设计第31-33页
     ·理想的增透保护膜系设计第31-33页
   ·膜系结构评价第33-36页
     ·膜系敏感因子分析第33-35页
     ·膜系结构偏差分析第35-36页
   ·本章小结第36-37页
第4章 薄膜制备与优化结构分析第37-56页
   ·正交实验第37-39页
   ·薄膜粗糙度第39-40页
   ·薄膜光电子能谱测试结果与分析第40-45页
     ·不同气体流量比下Si0_2 薄膜XPS分析第40-42页
     ·不同气体流量比下Y_20_3 薄膜XPS分析第42-45页
   ·薄膜XRD测试结果分析第45-49页
   ·薄膜椭偏光谱分析第49-52页
     ·Si0_2 薄膜椭圆偏振光谱测试第49-50页
     ·Y_20_3 薄膜椭圆偏振光谱测试第50-52页
   ·复合薄膜表面形貌和断面形貌第52-55页
   ·本章小结第55-56页
第5章 薄膜评价第56-60页
   ·薄膜的红外光学性能第56-57页
   ·膜基结合力分析第57-59页
     ·声发射强度表征第57-58页
     ·切向摩擦力变化表征第58-59页
   ·本章小结第59-60页
结论第60-62页
参考文献第62-67页
致谢第67页

论文共67页,点击 下载论文
上一篇:二维硼碳氮纳米片层薄膜的控制生长及性质研究
下一篇:基于LMI的高精密设备隔振平台的鲁棒H2/H控制