| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第17-29页 |
| 1.1 光谱成像技术概述 | 第17-19页 |
| 1.2 光谱成像技术发展现状及趋势 | 第19-24页 |
| 1.3 线性渐变滤光片光谱成像技术发展现状 | 第24-26页 |
| 1.4 本课题的研究意义与内容 | 第26-29页 |
| 第2章 线性渐变滤光片型光谱成像系统数学分析模型 | 第29-67页 |
| 2.1 线性渐变滤光片基础理论 | 第29-41页 |
| 2.1.1 Bragg反射镜 | 第30-31页 |
| 2.1.2 Fabry-Perot滤光片 | 第31-38页 |
| 2.1.3 线性渐变滤光片 | 第38-41页 |
| 2.2 线性渐变滤光片光谱成像技术方案研究 | 第41-46页 |
| 2.2.1 狭缝准直方案 | 第41-43页 |
| 2.2.2 无狭缝色散方案 | 第43-44页 |
| 2.2.3 成像方案 | 第44-46页 |
| 2.3 线性渐变滤光片光谱成像系统数学分析模型 | 第46-63页 |
| 2.3.1 线性渐变滤光片光谱成像仪系统构成 | 第47-48页 |
| 2.3.2 光学子系统仿真 | 第48-62页 |
| 2.3.3 线性渐变滤光片型光谱成像仪输出信号计算 | 第62-63页 |
| 2.4 本章总结 | 第63-67页 |
| 第3章 线性渐变滤光片光谱成像仪样机设计与调试 | 第67-117页 |
| 3.1 系统基本参数的确定原理 | 第67-70页 |
| 3.2 样机电子学系统设计 | 第70-90页 |
| 3.2.1 硬件电路设计 | 第70-81页 |
| 3.2.2 系统FPGA逻辑设计 | 第81-90页 |
| 3.3 基于类对比度的CCD相关双采样自适应技术 | 第90-99页 |
| 3.3.1 基于类对比度的CDS自适应原理 | 第92-96页 |
| 3.3.2 实验验证 | 第96-99页 |
| 3.4 在线装配监测方法 | 第99-113页 |
| 3.4.1 线性渐变滤光片和探测器失配角对探测器光谱响应的影响分析 | 第100-111页 |
| 3.4.2 行像素光谱响应标定在线监测方法 | 第111-112页 |
| 3.4.3 单色光扩散函数标定在线监测法 | 第112-113页 |
| 3.5 线性渐变滤光片光谱成像仪样机数据采集实验 | 第113-115页 |
| 3.6 本章总结 | 第115-117页 |
| 第4章 线性渐变滤光片光谱成像仪数据预处理研究 | 第117-137页 |
| 4.1 快速无损压缩技术 | 第117-124页 |
| 4.1.1 线性渐变滤光片型光谱成像仪数据特点 | 第118-119页 |
| 4.1.2 改进的压缩方法WCCSDS123 | 第119-122页 |
| 4.1.3 线性渐变滤光片光谱成像仪无损压缩实验与分析 | 第122-124页 |
| 4.2 数据预处理校正技术 | 第124-130页 |
| 4.2.1 预处理校正数据特点分析 | 第125页 |
| 4.2.2 偏置校正 | 第125-126页 |
| 4.2.3 暗电流校正 | 第126-127页 |
| 4.2.4 拖尾校正 | 第127-130页 |
| 4.3 快速配准技术 | 第130-135页 |
| 4.3.1 图像的向量化处理 | 第130-132页 |
| 4.3.2 系统非均匀性的图像自校正 | 第132-133页 |
| 4.3.3 二阶微分相关配准 | 第133页 |
| 4.3.4 线性渐变滤光片光谱成像仪数据的配准实验 | 第133-135页 |
| 4.4 本章总结 | 第135-137页 |
| 第5章 光谱波段数据处理研究 | 第137-175页 |
| 5.1 光谱重采样 | 第138-148页 |
| 5.1.1 隔点重采样方法 | 第139-140页 |
| 5.1.2 光谱通道合并重采样 | 第140-148页 |
| 5.2 光谱复原增强技术 | 第148-173页 |
| 5.2.1 波段间光谱重叠补偿方法 | 第149-151页 |
| 5.2.2 最大线性不相关子空间LSQR复原方法 | 第151-161页 |
| 5.2.3 利用解卷积算法实现光谱增强 | 第161-173页 |
| 5.3 本章总结 | 第173-175页 |
| 第6章 总结与展望 | 第175-177页 |
| 参考文献 | 第177-187页 |
| 致谢 | 第187-189页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第189页 |
