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8bit高速采样保持级设计

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第9-13页
    1.1 论文背景第9-10页
    1.2 国内外研究现状第10-11页
    1.3 论文研究内容及设计指标第11-12页
    1.4 论文组织结构第12-13页
第二章 交织ADC和采样保持级概述第13-27页
    2.1 交织ADC概述第13-19页
        2.1.1 交织ADC工作原理第13-14页
        2.1.2 交织ADC非理想因素第14-19页
    2.2 采样保持级性能指标第19-21页
        2.2.1 静态性能参数第19-20页
        2.2.2 动态性能参数第20-21页
    2.3 采样保持级现有方案综述第21-25页
        2.3.1 闭环采样保持级SHA综述第22-23页
        2.3.2 开环采样保持级THA综述第23-25页
    2.4 本章小结第25-27页
第三章 采样保持级的电路设计与仿真第27-51页
    3.1 采样保持级的架构设计第27-33页
        3.1.1 保持相馈通消除技术分析第27-31页
        3.1.2 基于交叉耦合电容技术的双开关采样保持级结构第31-33页
    3.2 双开关输入运放的设计与仿真第33-38页
        3.2.1 双开关输入运放的设计第33-37页
        3.2.2 输入运放结构的仿真结果第37-38页
    3.3 开关buffer的设计与仿真第38-44页
        3.3.1 开关buffer结构的设计第38-41页
        3.3.2 采样电容值的选取第41-42页
        3.3.3 开关buffer的仿真结果第42-44页
    3.4 辅助反馈运放和输出buffer的设计第44-45页
        3.4.1 辅助反馈运放的设计与仿真第44-45页
        3.4.2 输出buffer的设计第45页
    3.5 时钟电路的设计与仿真第45-47页
    3.6 整体双开关THA结构性能仿真第47-50页
    3.7 本章小结第50-51页
第四章 版图设计与后仿真第51-59页
    4.1 模拟集成电路版图设计第51-54页
        4.1.1 模拟版图的设计要求与非理想因素第51-52页
        4.1.2 各关键模块版图第52-54页
    4.2 整体THA后仿真与结果分析第54-57页
    4.3 本章小结第57-59页
第五章 总结与展望第59-61页
    5.1 总结第59页
    5.2 展望第59-61页
致谢第61-63页
参考文献第63-67页
作者简介第67页

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