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GaAs MOSFET射频开关器件与电路的研究

摘要第3-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第9-13页
    1.1 研究背景第9-10页
    1.2 射频开关的发展第10-12页
    1.3 本文主要内容第12-13页
第二章 GaAs MOSFET 器件和工艺第13-29页
    2.1 GaAs MOSFET 器件第13-16页
    2.2 GaAs MOSFET 器件工艺流程第16-20页
        2.2.1 欧姆接触第16-17页
        2.2.2 台面隔离第17-18页
        2.2.3 栅介质沉积第18页
        2.2.4 栅槽刻蚀和栅金属蒸发第18-20页
    2.3 氧气氛围下 InP/Al2O3热退火的研究第20-24页
    2.4 O3处理条件下 ALD 生长 Al2O3的研究第24-29页
第三章 射频开关器件建模第29-45页
    3.1 射频开关小信号模型第29-30页
    3.2 小信号模型的参数提取第30-33页
        3.2.1 PAD 电容的提取第30-32页
        3.2.2 寄生电感和电阻第32-33页
    3.3 射频开关器件的小信号模型提参第33-36页
    3.4 器件特性表征第36-42页
        3.4.1 直流特性表征第37-39页
        3.4.2 开关小信号特性表征第39-40页
        3.4.3 开关功率特性表征第40-42页
    3.5 小信号模型建模与拟合第42-45页
第四章 射频开关电路的设计第45-57页
    4.1 射频开关基础第45-51页
        4.1.1 射频开关分类第45-46页
        4.1.2 射频开关的基本工作原理第46页
        4.1.3 射频开关的主要性能指标第46-48页
        4.1.4 SPDT 射频开关第48-50页
        4.1.5 改善射频开关线性度的方法第50-51页
    4.2 SP4T 射频开关电路的设计第51-57页
第五章 总结与展望第57-58页
致谢第58-59页
硕士期间发表论文第59-60页
参考文献第60-64页

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