基于分流器的大功率IGBT检测及转换电路设计
| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题的研究背景与研究意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2.1 IGBT的国内外发展现状 | 第9页 |
| 1.2.2 检测电路的国内外发展现状 | 第9-10页 |
| 1.3 论文章节安排 | 第10-12页 |
| 2 基本理论概述 | 第12-24页 |
| 2.1 重要仪表放大器结构 | 第12-14页 |
| 2.1.1 三运放仪表 | 第12页 |
| 2.1.2 双运放体表放大器 | 第12-13页 |
| 2.1.3 反馈型仪表放大器 | 第13-14页 |
| 2.2 运算放大器低频误差分析 | 第14-16页 |
| 2.2.1 CMOS运算放大器失调电压分析 | 第14-15页 |
| 2.2.2 运算放大器低频GMRR、PSRR分析 | 第15-16页 |
| 2.2.3 CMOS运算放大1/f噪声分析 | 第16页 |
| 2.3 动态失调(1/f)补偿技术 | 第16-19页 |
| 2.3.1 斩波调制技术基本原理。 | 第16-17页 |
| 2.3.2 载波调制消除1/f噪声分析 | 第17页 |
| 2.3.3 斩波调制器设计分析 | 第17-19页 |
| 2.4 ADC的性能指标 | 第19-21页 |
| 2.5 ADC的分类 | 第21-24页 |
| 3 检测电路设计 | 第24-44页 |
| 3.1 带隙基准的设计 | 第25-28页 |
| 3.2 检测电路设计 | 第28-33页 |
| 3.2.1 纹波消除回路设计 | 第29-31页 |
| 3.2.2 混合嵌套米勒型补偿 | 第31-33页 |
| 3.3 主要模块设计 | 第33-44页 |
| 3.3.1 LFP输入级设计 | 第33-35页 |
| 3.3.2 中间增益提高设计 | 第35-36页 |
| 3.3.3 中间增益提高设计 | 第36-40页 |
| 3.3.4 CurrentBuffer | 第40-42页 |
| 3.3.5 输出电路设计 | 第42-44页 |
| 4 转换电路的设计 | 第44-62页 |
| 4.1 比较器的设计 | 第44-51页 |
| 4.1.1 比较器失调电压消除 | 第45-47页 |
| 4.1.2 前置预防大级设计 | 第47-48页 |
| 4.1.3 锁存级的设计 | 第48-49页 |
| 4.1.4 输出级的设计 | 第49-50页 |
| 4.1.5 比较器的整体仿真 | 第50-51页 |
| 4.2 数模转换电路 | 第51-56页 |
| 4.2.1 数模转换器类型 | 第51-52页 |
| 4.2.2 数模转换器的设计 | 第52-54页 |
| 4.2.3 开关网络设计 | 第54-56页 |
| 4.2.4 DAC电路仿真 | 第56页 |
| 4.3 数字逻辑控制设计 | 第56-62页 |
| 4.3.1 计数器的设计 | 第56-59页 |
| 4.3.2 逐次移位寄存器设计 | 第59-62页 |
| 5 系统仿真 | 第62-68页 |
| 5.1 检测电路仿真 | 第62-64页 |
| 5.2 转换电路的仿真 | 第64-66页 |
| 5.3 整体仿真 | 第66页 |
| 5.4 版图规划及测试方案提出 | 第66-68页 |
| 6 总结与展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
