射频MOSFET噪声参数提取研究及噪声系数自动化测试系统设计
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·射频MOSFET噪声模型研究现状 | 第11页 |
| ·论文的主要工作 | 第11-12页 |
| ·论文组织 | 第12-13页 |
| 第二章 射频MOSFET噪声模型介绍 | 第13-30页 |
| ·历史上各种噪声模型总结 | 第13-16页 |
| ·HSPICE噪声模型 | 第13页 |
| ·Fox噪声模型 | 第13-14页 |
| ·BSIM3v3噪声模型 | 第14页 |
| ·BSIM4噪声模型 | 第14-16页 |
| ·PSP模型 | 第16页 |
| ·MOSFET模型中的各类噪声源 | 第16-29页 |
| ·散粒噪声 | 第17页 |
| ·闪烁噪声 | 第17-18页 |
| ·MOSFET中的热噪声 | 第18-23页 |
| ·栅极感应噪声及其与沟道噪声的相关性 | 第23-24页 |
| ·栅极电阻噪声 | 第24-25页 |
| ·CMOS按比例缩小对噪声特性的影响 | 第25-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 二端口网络的噪声理论及计算 | 第30-39页 |
| ·二端口网络的噪声理论 | 第30-34页 |
| ·噪声参数的计算 | 第34-38页 |
| ·MOSFET噪声参数直接计算法 | 第34-35页 |
| ·MOSFET噪声参数的分析计算法 | 第35-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 MOSFET小信号参数的提取方法及结果 | 第39-48页 |
| ·焊盘及互连线寄生的去嵌技术 | 第39-42页 |
| ·焊盘和互连线寄生元件的提取技术 | 第42-43页 |
| ·晶体管部分的参数提取 | 第43-47页 |
| ·串联电阻的参数提取 | 第43-44页 |
| ·衬底部分参数的提取 | 第44-45页 |
| ·半分析提取法及其提取结果 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 噪声参数测量及提取技术 | 第48-67页 |
| ·噪声参数去嵌技术 | 第48-51页 |
| ·直接去嵌技术 | 第48-49页 |
| ·TRL方法 | 第49-51页 |
| ·基于调谐器的直接测量法 | 第51-54页 |
| ·改进型Y因子方法 | 第54-56页 |
| ·基于50欧姆测量系统的噪声参数提取法 | 第56-60页 |
| ·基于无调谐器噪声测试系统的噪声参数半分析法 | 第60-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 噪声系数自动化测试技术的实现 | 第67-75页 |
| ·噪声系数测量原理 | 第67-68页 |
| ·硬件设计 | 第68-69页 |
| ·软件设计 | 第69-74页 |
| ·软件体系 | 第69-70页 |
| ·应用程序设计 | 第70-71页 |
| ·软件关键代码和使用说明 | 第71-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 附录一:攻读硕士期间发表论文 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 后记 | 第80页 |
