| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 图目录 | 第9-11页 |
| 表目录 | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-20页 |
| 1.1 引言 | 第12-14页 |
| 1.2 国内外研究动态 | 第14-16页 |
| 1.3 课题背景及研究意义 | 第16-17页 |
| 1.4 主要研究内容 | 第17页 |
| 1.5 论文组织结构 | 第17-20页 |
| 第二章 CMOS成像器件噪声的研究 | 第20-26页 |
| 2.1 引言 | 第20页 |
| 2.2 CMOS图像传感器的噪声分类 | 第20-24页 |
| 2.2.1 热噪声 | 第21页 |
| 2.2.2 复位噪声 | 第21-22页 |
| 2.2.3 散粒噪声 | 第22-23页 |
| 2.2.4 闪烁噪声 | 第23-24页 |
| 2.2.5 模式噪声 | 第24页 |
| 2.3 CMOS成像器件中各部分噪声源 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于Simulink的CMOS成像器件建模的研究 | 第26-40页 |
| 3.1 Simulink简介 | 第26-27页 |
| 3.2 基于LUPA4000的CMOS成像系统概述 | 第27-28页 |
| 3.3 成像器件的像素级建模 | 第28-31页 |
| 3.4 成像器件的器件级建模 | 第31-35页 |
| 3.4.1 无噪声情况下器件级建模 | 第31-33页 |
| 3.4.2 有噪声情况下器件级建模 | 第33-35页 |
| 3.5 相关双采样技术(Correlated Double Sample) | 第35-39页 |
| 3.6 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 CMOS成像器件仿真结果及分析 | 第40-52页 |
| 4.1 无噪声情况下仿真结果及其分析 | 第40-42页 |
| 4.1.1 像素级仿真结果及其分析 | 第40-42页 |
| 4.1.2 器件级仿真结果及其分析 | 第42页 |
| 4.2 有噪声情况下仿真结果及其分析 | 第42-45页 |
| 4.2.1 像素级仿真结果及其分析 | 第43-44页 |
| 4.2.2 器件级仿真结果及其分析 | 第44-45页 |
| 4.3 相关双采样技术的仿真结果及其分析 | 第45-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-52页 |
| 第五章 固定模式噪声抑制方法的研究 | 第52-62页 |
| 5.1 像元增益 | 第52-58页 |
| 5.2 固定模式噪声抑制方法 | 第58-59页 |
| 5.3 抑噪方法的比较与分析 | 第59-61页 |
| 5.3.1 固定模式噪声的计算 | 第59-60页 |
| 5.3.2 抑制结果的比较与分析 | 第60-61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 6.1 全文总结 | 第62页 |
| 6.2 未来的工作 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 作者在学期间参加科研、发表论文情况 | 第66-68页 |
| 在校期间参见科研项目情况 | 第66页 |
| 在学期间发表论文情况 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
