| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 弱信号检测的发展概况 | 第9-12页 |
| 1.1.1 弱信号检测发展状况 | 第9-11页 |
| 1.1.2 弱信号检测的发展趋势 | 第11-12页 |
| 1.2 本文的主要内容 | 第12-13页 |
| 第二章 相关原理理论 | 第13-32页 |
| 2.1 弱信号检测基本原理 | 第13-19页 |
| 2.1.1 随机噪声分析 | 第13-17页 |
| 2.1.2 常规小信号检测方法 | 第17-19页 |
| 2.2 相关原理 | 第19-22页 |
| 2.2.1 相关原理介绍 | 第19-20页 |
| 2.2.2 相关检测技术 | 第20-22页 |
| 2.3 锁定放大器原理及组成 | 第22-27页 |
| 2.3.1 锁定放大器原理介绍 | 第22-23页 |
| 2.3.2 锁定放大器组成 | 第23-26页 |
| 2.3.3 锁定放大器性能指标 | 第26-27页 |
| 2.4 基于 simulink 的锁定放大器技术仿真 | 第27-32页 |
| 2.4.1 simulink 介绍 | 第27-29页 |
| 2.4.2 锁定放大器的仿真模型建立及结果分析 | 第29-32页 |
| 第三章 锁定放大器方案设计 | 第32-57页 |
| 3.1 系统方案论证 | 第32-37页 |
| 3.1.1 系统整体框图结构分析 | 第32-33页 |
| 3.1.2 关键器件选择 | 第33-37页 |
| 3.2 系统电路设计 | 第37-57页 |
| 3.2.1 参考信号通道信号源设计 | 第37-43页 |
| 3.2.2 输入信号通道电路设计 | 第43-47页 |
| 3.2.3 相敏检波器部分电路设计 | 第47-51页 |
| 3.2.4 控制部分电路设计 | 第51-57页 |
| 第四章 系统调试、测试和结果分析 | 第57-63页 |
| 4.1 FPGA 开发板调试 | 第57页 |
| 4.2 DDS 电路硬件调试 | 第57-59页 |
| 4.3 信号通道硬件调试 | 第59页 |
| 4.4 AD630 硬件调试 | 第59-60页 |
| 4.5 系统测试及结果分析 | 第60-63页 |
| 第五章 总结 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 附录 | 第67-68页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第68-69页 |