国产300万门SRAM型FPGA片上资源验证方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-24页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第16-17页 |
| 1.2 国内外现状分析 | 第17-22页 |
| 1.3 论文工作内容 | 第22页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第22-24页 |
| 第二章 FPGA体系结构分析 | 第24-34页 |
| 2.1 XX2V3000型FPGA的主体架构 | 第24页 |
| 2.2 逻辑资源 | 第24-31页 |
| 2.3 互联资源 | 第31-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 XX2V3000型FPGA测试方案 | 第34-68页 |
| 3.1 测试需求分析 | 第34页 |
| 3.2 逻辑资源测试 | 第34-53页 |
| 3.2.1 可编程模块内建自测试 | 第35-39页 |
| 3.2.2 可编程输入输出模块内建自测试 | 第39-41页 |
| 3.2.3 内嵌IP核内建自测试技术 | 第41-49页 |
| 3.2.4 逻辑资源的高覆盖率测试方案 | 第49-53页 |
| 3.3 互联资源测试 | 第53-65页 |
| 3.3.1 跨越式互联结构的测试图形生成算法研究 | 第54-61页 |
| 3.3.2 互联向量的自动化测试技术 | 第61-63页 |
| 3.3.3 互联资源的高覆盖率率测试 | 第63-65页 |
| 3.4 本章小结 | 第65-68页 |
| 第四章 XX2V3000型FPGA片上资源验证 | 第68-92页 |
| 4.1 XX2V3000型FPGA测试验证的实现 | 第68-69页 |
| 4.1.1 硬件平台 | 第68-69页 |
| 4.1.2 软件平台 | 第69页 |
| 4.2 XX2V3000型FPGA测试结果 | 第69-90页 |
| 4.2.1 可编程逻辑单元测试结果 | 第69-83页 |
| 4.2.2 可编程输入输出单元测试 | 第83-85页 |
| 4.2.3 DCM模块测试 | 第85-87页 |
| 4.2.4 互联资源测试 | 第87-90页 |
| 4.2.5 其它资源验证 | 第90页 |
| 4.3 本章小结 | 第90-92页 |
| 第五章 结束语 | 第92-94页 |
| 5.1 论文工作总结 | 第92页 |
| 5.2 创新点 | 第92-93页 |
| 5.3 后续工作展望 | 第93-94页 |
| 参考文献 | 第94-96页 |
| 致谢 | 第96-98页 |
| 作者简介 | 第98页 |
