基于AGET芯片的时间投影室前端电子学研究
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第11-25页 |
| 1.1 PandaX-Ⅲ无中微子双β衰变实验 | 第11-15页 |
| 1.1.1 无中微子双β衰变原理 | 第11-13页 |
| 1.1.2 PandaX-Ⅲ实验 | 第13-15页 |
| 1.2 时间投影室 | 第15-19页 |
| 1.2.1 时间投影室工作原理 | 第16-17页 |
| 1.2.2 时间投影室发展及应用 | 第17-18页 |
| 1.2.3 时间投影室端盖读出探测器 | 第18-19页 |
| 1.3 微网结构气体探测器 | 第19-22页 |
| 1.4 本论文研究内容及结构安排 | 第22-23页 |
| 参考文献 | 第23-25页 |
| 第二章 PandaX-Ⅲ读出电子学需求调研 | 第25-45页 |
| 2.1 PandaX-Ⅲ读出电子学需求 | 第25-27页 |
| 2.1.1 无中微子双β衰变信号特点 | 第25-26页 |
| 2.1.2 PandaX-Ⅲ对读出电子学的需求 | 第26-27页 |
| 2.2 相关实验的读出电子学调研 | 第27-35页 |
| 2.2.1 NEXT-100实验 | 第27-30页 |
| 2.2.2 CAST实验 | 第30-31页 |
| 2.2.3 T2K实验 | 第31-33页 |
| 2.2.4 MINOS实验 | 第33-34页 |
| 2.2.5 小结 | 第34-35页 |
| 2.3 ASIC芯片选型 | 第35-43页 |
| 2.3.1 ASIC芯片调研 | 第35-37页 |
| 2.3.2 AGET芯片介绍 | 第37-43页 |
| 参考文献 | 第43-45页 |
| 第三章 基于AGET芯片的原型电子学设计 | 第45-59页 |
| 3.1 电子学整体框架 | 第45-47页 |
| 3.2 电子学设计 | 第47-58页 |
| 3.2.1 前端ASIC板设计 | 第47-48页 |
| 3.2.2 适配板设计 | 第48-50页 |
| 3.2.3 采集卡FEC设计 | 第50-53页 |
| 3.2.4 接口设计 | 第53-56页 |
| 3.2.5 电源设计 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-59页 |
| 第四章 电子学测试 | 第59-82页 |
| 4.1 功能测试 | 第59-64页 |
| 4.1.1 前端ASIC板功能测试 | 第59-60页 |
| 4.1.2 适配板性能测试 | 第60-64页 |
| 4.1.2.1 测试方法及测试平台 | 第60-61页 |
| 4.1.2.2 测试结果与分析 | 第61-64页 |
| 4.2 电子学系统性能测试 | 第64-80页 |
| 4.2.1 噪声测试 | 第65-67页 |
| 4.2.2 波形拟合 | 第67-68页 |
| 4.2.3 数据压缩 | 第68-69页 |
| 4.2.4 输入输出特性 | 第69-75页 |
| 4.2.4.1 120fC动态范围的输入输出特性 | 第69-71页 |
| 4.2.4.2 10pC动态范围的输入输出特性 | 第71-72页 |
| 4.2.4.3 四个动态范围的输入输出特点对比 | 第72-74页 |
| 4.2.4.4 SCA采样频率对信号的影响 | 第74-75页 |
| 4.2.5 宽脉冲信号测试 | 第75-80页 |
| 4.3 正极性信号补充测试 | 第80-81页 |
| 4.4 小结 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-83页 |
| 第五章 总结与展望 | 第83-84页 |
| 创新点 | 第84-85页 |
| 附录 | 第85-87页 |
| 致谢 | 第87-89页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第89页 |
