| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-20页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第14-17页 |
| 1.1.1 片式钽电容器的发展现状 | 第14-15页 |
| 1.1.2 主要研究方向 | 第15-17页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第17-18页 |
| 1.2.1 国内研究现状 | 第17页 |
| 1.2.2 国外研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3 本文的研究内容及意义 | 第18-20页 |
| 1.3.1 本文研究内容 | 第18页 |
| 1.3.2 本文研究意义 | 第18-20页 |
| 第二章 片式钽电容器介绍 | 第20-28页 |
| 2.1 电解电容器的基本概念 | 第20页 |
| 2.2 片式钽电容器的基本介绍 | 第20-21页 |
| 2.3 片式钽电容器的主要电参数介绍 | 第21-24页 |
| 2.3.1 电容量 | 第21-22页 |
| 2.3.2 漏电流值 | 第22-23页 |
| 2.3.3 等效串联电阻 | 第23页 |
| 2.3.4 损耗角正切值 | 第23-24页 |
| 2.4 片式钽电容器的工艺流程 | 第24-28页 |
| 2.4.1 成型工序 | 第24-25页 |
| 2.4.2 烧结工序 | 第25-26页 |
| 2.4.3 形成工序 | 第26-27页 |
| 2.4.4 被膜工序 | 第27页 |
| 2.4.5 石墨银浆工序 | 第27-28页 |
| 第三章 大容量片式钽电容器高低温性能稳定性研究 | 第28-42页 |
| 3.1 大容量片式钽电容器电参数在不同温度下的变化规律 | 第28-31页 |
| 3.1.1 电容量在不同温度下的变化规律 | 第28-29页 |
| 3.1.2 漏电流在不同温度下的变化规律 | 第29-30页 |
| 3.1.3 等效串联电阻及损耗角正切值在不同温度下的变化规律 | 第30-31页 |
| 3.2 电容量高低温稳定性研究 | 第31-36页 |
| 3.2.1 电容量变化大的影响因素 | 第31-32页 |
| 3.2.2 减小电容量变化大的方法 | 第32-36页 |
| 3.3 漏电流高低温稳定性研究 | 第36-38页 |
| 3.3.1 引起漏电流变大的原因 | 第36页 |
| 3.3.2 减小漏电流变大的方法 | 第36-38页 |
| 3.4 损耗及等效串联电阻高低温稳定性研究 | 第38-42页 |
| 3.4.1 引起损耗及等效串联电阻变大的原因 | 第38-39页 |
| 3.4.2 减小损耗及等效串联电阻变大的方法 | 第39-42页 |
| 第四章 结论和展望 | 第42-44页 |
| 4.1 研究结论 | 第42-43页 |
| 4.2 展望 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-46页 |
| 致谢 | 第46-48页 |
| 作者简介 | 第48-49页 |