武汉电离层探测系统电离图反演研究
摘要 | 第6-8页 |
ABSTRACT | 第8-10页 |
第一章 绪论 | 第13-23页 |
1.1 武汉电离层探测系统 | 第13-20页 |
1.1.1 系统探测原理 | 第14-16页 |
1.1.2 系统硬件 | 第16-17页 |
1.1.3 系统软件 | 第17页 |
1.1.4 系统功能 | 第17-20页 |
1.2 研究意义和内容安排 | 第20-23页 |
第二章 系统软件的设计与开发 | 第23-32页 |
2.1 硬件控制 | 第23-24页 |
2.2 数据处理与显示 | 第24-27页 |
2.3 远程控制 | 第27-29页 |
2.4 文件传输 | 第29-31页 |
2.5 本章小结 | 第31-32页 |
第三章 电子浓度剖面反演的原理 | 第32-52页 |
3.1 电离层电波传播基础 | 第32-34页 |
3.1.1 光化学平衡 | 第32-33页 |
3.1.2 磁离子理论 | 第33-34页 |
3.2 电离层电子浓度剖面模型 | 第34-39页 |
3.2.1 Chapman模型 | 第35页 |
3.2.2 抛物模型 | 第35-36页 |
3.2.3 QP模型 | 第36页 |
3.2.4 QPS模型 | 第36-38页 |
3.2.5 IRI模型 | 第38-39页 |
3.3 射线参数的计算 | 第39-43页 |
3.3.1 求解QP模型的射线参数 | 第40-41页 |
3.3.2 求解QPS模型的射线参数 | 第41-43页 |
3.4 反演方法 | 第43-50页 |
3.4.1 模拟退火算法 | 第43-45页 |
3.4.2 粒子群优化算法 | 第45-49页 |
3.4.3 反演方法的比较 | 第49-50页 |
3.4.4 本文的反演方法 | 第50页 |
3.5 本章小结 | 第50-52页 |
第四章 垂直探测频高图的反演 | 第52-65页 |
4.1 频高图的反演 | 第52-53页 |
4.2 国内外研究情况 | 第53-55页 |
4.3 本文的反演方法 | 第55-64页 |
4.3.1 合成频高图的反演 | 第56-61页 |
4.3.2 WISS频高图的反演 | 第61-64页 |
4.4 本章小结 | 第64-65页 |
第五章 斜向探测电离图的反演 | 第65-78页 |
5.1 电离层斜向传播中的相关定理 | 第65-68页 |
5.1.1 正割定理 | 第65-66页 |
5.1.2 等效路径定理 | 第66-67页 |
5.1.3 等效虚高定理 | 第67-68页 |
5.2 国内外研究情况 | 第68-69页 |
5.3 本文的反演方法 | 第69-77页 |
5.3.1 合成数据的反演 | 第72-74页 |
5.3.2 WISS电离图的反演 | 第74-77页 |
5.4 本章小结 | 第77-78页 |
第六章 返回散射电离图的反演 | 第78-108页 |
6.1 国内外研究情况 | 第78-85页 |
6.1.1 扫频电离图的反演 | 第78-80页 |
6.1.2 仰角扫描电离图的反演 | 第80-85页 |
6.2 本文的反演方法 | 第85-107页 |
6.2.1 实验介绍 | 第86-90页 |
6.2.2 基于QP模型的反演 | 第90-99页 |
6.2.2.1 合成数据的反演 | 第92-93页 |
6.2.2.2 WISS电离图的反演 | 第93-99页 |
6.2.3 基于QPS模型的反演 | 第99-107页 |
6.2.3.1 合成数据的反演 | 第100-102页 |
6.2.3.2 WISS电离图的反演 | 第102-107页 |
6.3 本章小结 | 第107-108页 |
第七章 总结与展望 | 第108-111页 |
7.1 总结 | 第108-110页 |
7.2 展望 | 第110-111页 |
参考文献 | 第111-118页 |
攻读博士学位期间的研究成果 | 第118-119页 |
致谢 | 第119页 |