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武汉电离层探测系统电离图反演研究

摘要第6-8页
ABSTRACT第8-10页
第一章 绪论第13-23页
    1.1 武汉电离层探测系统第13-20页
        1.1.1 系统探测原理第14-16页
        1.1.2 系统硬件第16-17页
        1.1.3 系统软件第17页
        1.1.4 系统功能第17-20页
    1.2 研究意义和内容安排第20-23页
第二章 系统软件的设计与开发第23-32页
    2.1 硬件控制第23-24页
    2.2 数据处理与显示第24-27页
    2.3 远程控制第27-29页
    2.4 文件传输第29-31页
    2.5 本章小结第31-32页
第三章 电子浓度剖面反演的原理第32-52页
    3.1 电离层电波传播基础第32-34页
        3.1.1 光化学平衡第32-33页
        3.1.2 磁离子理论第33-34页
    3.2 电离层电子浓度剖面模型第34-39页
        3.2.1 Chapman模型第35页
        3.2.2 抛物模型第35-36页
        3.2.3 QP模型第36页
        3.2.4 QPS模型第36-38页
        3.2.5 IRI模型第38-39页
    3.3 射线参数的计算第39-43页
        3.3.1 求解QP模型的射线参数第40-41页
        3.3.2 求解QPS模型的射线参数第41-43页
    3.4 反演方法第43-50页
        3.4.1 模拟退火算法第43-45页
        3.4.2 粒子群优化算法第45-49页
        3.4.3 反演方法的比较第49-50页
        3.4.4 本文的反演方法第50页
    3.5 本章小结第50-52页
第四章 垂直探测频高图的反演第52-65页
    4.1 频高图的反演第52-53页
    4.2 国内外研究情况第53-55页
    4.3 本文的反演方法第55-64页
        4.3.1 合成频高图的反演第56-61页
        4.3.2 WISS频高图的反演第61-64页
    4.4 本章小结第64-65页
第五章 斜向探测电离图的反演第65-78页
    5.1 电离层斜向传播中的相关定理第65-68页
        5.1.1 正割定理第65-66页
        5.1.2 等效路径定理第66-67页
        5.1.3 等效虚高定理第67-68页
    5.2 国内外研究情况第68-69页
    5.3 本文的反演方法第69-77页
        5.3.1 合成数据的反演第72-74页
        5.3.2 WISS电离图的反演第74-77页
    5.4 本章小结第77-78页
第六章 返回散射电离图的反演第78-108页
    6.1 国内外研究情况第78-85页
        6.1.1 扫频电离图的反演第78-80页
        6.1.2 仰角扫描电离图的反演第80-85页
    6.2 本文的反演方法第85-107页
        6.2.1 实验介绍第86-90页
        6.2.2 基于QP模型的反演第90-99页
            6.2.2.1 合成数据的反演第92-93页
            6.2.2.2 WISS电离图的反演第93-99页
        6.2.3 基于QPS模型的反演第99-107页
            6.2.3.1 合成数据的反演第100-102页
            6.2.3.2 WISS电离图的反演第102-107页
    6.3 本章小结第107-108页
第七章 总结与展望第108-111页
    7.1 总结第108-110页
    7.2 展望第110-111页
参考文献第111-118页
攻读博士学位期间的研究成果第118-119页
致谢第119页

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